【2D-DIC原理简介】 2D-DIC可以测量变形物体在平面二维空间中的位移,进而可通过位移数据计算应变等信息,可用于分析物体的变形过程中的力学性能,主要应用于全场位移、变形、振幅、模态等信息的测量。 本文将结合一个近年来较为流行的开源2D-DIC算法软件——Ncorr[1],进行2D-DIC相关的算法原理讲解,简单介绍该开源软法...
DIC测量原理是基于图像的亮度匹配和像素位移计算。具体原理如下:1.亮度匹配:首先,在进行DIC测量前,对待测物体进行拍摄得到一系列图像。然后,选择两个相邻图像进行亮度匹配,即将两幅图像进行亮度显示范围变换,使得两幅图像的亮度尽量一致。2.图像剖分:将匹配亮度后的图像进行分块,每个块的大小取决于待测物体的尺寸和形...
The VIC-2D 系统可测量超过2000%变形的面内位移和应变,测量分辨率可低至 10 微应变。通过内置的显微镜畸变校正和 SEM扫描电镜漂移校正模块,实现了微米到米级尺寸的试样的轻松测量,该软件是市场上高度灵活且功能强大的 2D DIC软件。 现在,内置在 VIC-2D 7 版本中的全新 iris 图形引擎带来了许多新功能,包括能够导...
DIC工作原理: 1. 注册服务 首先,在应用程序启动时,开发人员会将需要使用的服务注册到DIC容器中。这通常是通过调用容器提供的方法来实现的。注册服务时,需要指定服务的ID和服务的实现类(或工厂方法),以及服务的生命周期类型。 2. 获取服务 在应用程序运行时,如果需要使用某个服务,可以通过容器提供的方法来获取它。
Vic-2D SEM 技术背景 Technical Backgroud 扫描电镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)作为电子显微镜的一类,经过五十多年的发展已成为现代科学研究领域中不可或缺的重要工具之一。电子显微镜技术的应用是建立在光学显微镜的基础之上的,光学显微镜的分辨率为0.2μm,扫描电镜的分辨率可低于2nm,也就是说扫描电镜在光学显...
The VIC-2D 系统可测量超过2000%变形的面内位移和应变,测量分辨率可低至 10 微应变。通过内置的显微镜畸变校正和 SEM扫描电镜漂移校正模块,实现了微米到米级尺寸的试样的轻松测量,该软件是市场上高度灵活且功能强大的 2D DIC软件。 现在,内置在 VIC-2D 7 版本中的全新 iris 图形引擎带来了许多新功能,包括能够导...
Vic-2D SEM 技术背景 Technical Backgroud 扫描电镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)作为电子显微镜的一类,经过五十多年的发展已成为现代科学研究领域中不可或缺的重要工具之一。电子显微镜技术的应用是建立在光学显微镜的基础之上的,光学显微镜的分辨率为0.2μm,扫描电镜的分辨率可低于2nm,也就是说扫描电镜在光学显...
DIC,VIC-3D,vic3d,VIC-2D,DVC,数字图像相关,iDICs,非接触全场 ,研索仪器(ACQTEC)致力于连接真实物理实验与虚拟仿真计算的跨尺度科研与研发解决方案。我们是美国Correlated Solutions, Inc.(简称CSI公司)的Vic-3D非接触全场数据测量系列解决方案,是包括香港、澳门在内的中国