高分辨透射电子显微镜(HRTEM)-DigitalMicrograph、晶格条纹分析晶格间距 3853 -- 3:16 App jsde+HRTEM-分析物质的晶面 344 -- 0:33 App 透射电镜TEM图无法进行傅里叶变换-30s解决 8.5万 13 6:04 App Gatan DigitalMicrograph 测量HRTEM 晶格条纹间距 傅里叶变换重新生成晶格 9.9万 11 1:18 App 透射电镜(...
1. 拍摄石墨烯高分辨晶格条纹是一项挑战，因为样品很脆弱，容易在拍摄过程中损坏。2. 使用80kV左右的透射电子显微镜（TEM），可以获得很好的成像效果。3. 然而，由于碳原子的尺寸很小，分辨率受到限制，难以达到非常高的水平。4. 如果确实需要高分辨率的图像，可以考虑使用球差校正的透射电子显微镜，但这...
如果在TEM图像中看到晶格条纹，可对标定后的图像进行FFT，得到一对或多对点，（如果点足够多，也可能是看到环或者弧线段，但都可以看成是点的集合），量取点到中心的距离（单位是nm^-1），求倒数，即为所对应晶面的晶面间距（单位是nm）。原理上，这样的测算结果跟直接在TEM图像上测量晶格条纹的间距...
如果在TEM图像中看到晶格条纹，可对标定后的图像进行FFT，得到一对或多对点，（如果点足够多，也可能是...
不知帮顶~
但由于碳原子很小，所以分辨率有所限制。如果非常想要拍摄石墨烯的图像，最好去找球差电镜，但这种设备...
1939年,德国西门子公司生产出第一批商用透射电镜(点分辨率10nm)。 1950年,开始生产高压电镜(点分辨率优于0.3nm,晶格条纹分辨率优于0.14Nnm)。 1956年,门特(Menter)发明了多束成像方法,开始了高分辨电子显微术。 1949年,海登莱西(Heidenreich)第一个用透射电镜观察了用电解减薄的铝试样; 20世纪50...
我是测量了几个晶格间距,取的平均值, gxytju2008 Fft以后再量会准很多的,这个东西也就是个差不多,宽度和xrd能对上就行 xiejf 结合XRD标准卡片和ED carefu 感觉HRTEM做得好,可以FFT,虽然这样测也不准,不小心就要差好多~~~可惜我对DM也不熟,帮不上你忙。 hyz3813596 你好,你这个纳米颗粒上标注的箭头,...
33 这个原理其实很简单，你的理解正确，要相信自己，如果不确定，你再找一些人问问。...行，谢谢~