其关键技术是加工工艺和检测技术。本文主要是研究Bov/x—ray光学元件面形浜差的测量方法与测量仪器。对已有的测量仪器长轨面形仪L’rP仪器进行了改进设计,提供一种新型的长轨面形仪LTP—IlI,,日于测量光学元件的倾斜度误差。最后,在结论中,作者提出了对测量仪器LTP—IIl改进与发展的几点设想。关键词:同步辐射倾斜...