一、干涉法:高精度的光学检测 干涉法基于光波干涉原理,通过分离并重组相干光束来观察干涉图案。此方法能够精确识别玻璃表面的平整度和微小面型误差,特别适用于对光学元件精度要求极高的场景。 二、轮廓仪:全方位的接触式测量 轮廓仪利用触针沿玻璃表面滑动,记录并分析表面轮廓...
本标准主要规定了光学面型的检测标准,包括表面粗糙度、表面平整度、表面缺陷和表面镀膜等方面的检测要求和方法。 二、光学面型检测标准 1.光学面型应符合设计要求,表面光滑、平整,无划痕、裂纹、气泡等缺陷。 2.光学面型的尺寸精度应符合相关标准,如《光学零件尺寸公差》等。 3.光学面型的表面粗糙度应符合设计要求,...
三、原子力显微镜检测法 原子力显微镜(AFM)检测法是一种纳米级的测量方法,它通过检测探针与样品表面之间的原子间相互作用力来绘制出样品表面的三维形貌。这种方法具有极高的分辨率和精度,可以检测到光学元件表面的纳米级变化。AFM检测法在光学元件的精密测量和科研领域具有广泛的应用前景。 在进行光学元件...
一文读懂光学元件面型检测报告 现代光学工程向一大一小两个方向发展,“大”是指大口径拼接技术,离轴非球面技术,往往应用于大型望远镜、空间望远镜、惯性制约聚变(ICF)装置。“小”是指亚纳米级高精度面型,低中高频粗糙度,多应用于DUV、EUV光刻设备。 高端光学系统的研制需要高精度检测技术,高精度的检测技术支撑着光学...
自由曲面光学元件应用于智能车载显示、AR 显示、手机镜头、激光显示、照明、光刻等前沿领域,自由曲面三维面型检测仪,能够非接触测量光学镜面元件的三维面型数据,开展三维轮廓分析和三维误差比对,并生成包含多项面型误差指标的测量报告。 产品编号 FF1000、FF2000、FF3000 ...
接下来,我们将详细介绍几种常用的玻璃表面面型检测方法。 一、干涉法检测 干涉法是一种基于光波干涉原理的检测方法。它通过将一束相干光分成两路,分别照射到待测玻璃表面和参考镜面上,然后观察两束光波相遇时产生的干涉条纹。根据干涉条纹的形状和分布,可以判断玻璃表面的平整度和面型误差。这种方法精度...
在面型检测中,光圈的大小直接影响到成像质量。光圈越大,进入相机的光线越多,图像变得更亮,但同时也会导致景深变浅;光圈越小,进入相机的光线越少,图像变得更暗,但同时也会导致景深变深。因此,光圈的选择需要根据具体的检测需求进行调整。 光圈的实质在于它控制了光线的进入量。光圈的大小决定了通过镜头进入相机的...
本文详细介绍了晶体加工面型检测的方法,包括其重要性、常用的检测技术手段以及检测过程中的关键步骤。通过了解这些检测方法,可以更好地确保晶体的加工质量和性能。
1、光学自由曲面三维面型检测系统(标准模式) 标准模块 特点:大视场,适应大多数反射镜零件测量 最大测量视场:400x250mm 横向采样分辨率达到 0.2mm 光学面型数据单次测量不确定度: +/-2um, 样品倾角范围+/-15 度 包含研究型检测功能和一键式检测功能 2、高分辨测量模式,镜面三维检测 标准模块 特点: ...
FM-FFS200自由曲面三维面型检测系统 FFS三维面型检测系统产品特点 1、自由曲面反射镜及其它光学元件表面的光学非接触、全场3D轮廓测量。 2、测量过程简单,无需精密调整样品姿态, 单件测量时间一般小于 20 秒;检测效率远远优于三坐标和 UA3P 等接触式三维检测设备,适合用于自由曲面光学面的全检。 3、基于CAD模型或者方...