集成电路测试定义 集成电路进人后摩尔时代以来,安全、可靠的软硬件协同设计、冗余定制、容错体系结构和协议、光机电一体化等新的设计趋势促使片内测试 (On-ChipTest)/片外测试(OIf-Chip Test) 整体测试解决方案趋于复杂化:先进工艺路线的发展,促使集成电路失效故障测试模型不断演化:芯片尺寸封装 ( ChipScale Package,...
集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一，因此，集成电路测试仪作为一个测试门类受到很多国家的高度重视。40年来，随着集成电路发展到第四代，集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路，到了八十年代，超大...
集成电路测试系统 集成电路测试系统是一种用于统计学领域的分析仪器，于2007年5月1日启用。技术指标 数字测试部分：。主要功能 可以测试数模混合集成电路。
一. 封测定义集成电路产业链可分为 芯片设计 、晶圆制造、封装测试三大环节。封测包括封装和测试两个环节。集成电路封装 :将晶圆片进行切割、焊线,使芯片电路与外部器件实现电气连接。主要有电气特性保持、芯片保护、应力缓和、尺寸调整配合四大功能。集成电路测试 :对芯
集成电路测试业目前正成为集成电路产业中一个不可或缺的独立行业。本书主要从职业道德、C语言、自动分选机、测试机系统及应用以及常用的仪器元件、常见产品测试实例等几个方面着手，比较系统地阐述了成品测试的重要组成步骤，是微电子专业学生进行集成电路测试岗位培训的必修知识。 目前市场上此类题材的教材还很少，是填补...
集成电路测试机 集成电路测试机是一种用于信息科学与系统科学、电子与通信技术领域的工艺试验仪器，于2014年06月05日启用。技术指标 最高工作频率：100MHz。128个测试通道，8个DPS通道，16个HV通道，一个系统参数测试模块。主要功能 用于各种芯片的直流以及码型测试。
集成电路逻辑测试系统 集成电路逻辑测试系统是一种用于电子与通信技术领域的电子测量仪器，于2005年11月25日启用。技术指标 测试频率 10MHzIO通道 128pins。主要功能 集成电路测试。
1.1 集成电路的重要意义；1.2 集成电路发展现状；1.3 集成电路测试的重要性；1.4 集成电路制造的基本操作 02 可测试性度量 掌握集成电路可测试性度量SCOAP规则及应用方法。课时 2.1 SCOAP组合可控性计算规则；2.2 SCOAP组合可控性计算例子；2.3 SCOAP时序可控性计算规则；2.4 SCOAP时序可控性计算例子 03 自...