《集成电路器件抗辐射加固设计技术》具备如下特点：率先考虑到强辐射环境下集成电路器件的容错设计问题，创造性地实现了锁存器的四节点翻转的容忍与在线自恢复，以及主从触发器、SRAM 存储单元及表决器的新型抗辐射加固设计；全面而详细地介绍了辐射与抗辐射的相关重要概念、常用的抗辐射加固设计组件，并给出了新颖的集成...
《集成电路器件抗辐射加固设计技术》具备如下特点:率先考虑到强辐射环境下集成电路器件的容错设计问题,创造性地实现了锁存器的四节点翻转的容忍与在线自恢复,以及主从触发器、SRAM 存储单元及表决器的新型抗辐射加固设计;全面而详细地介绍了辐射与抗辐射的相关重要...
集成电路器件抗辐射加固设计技术 集成电路抗辐射加固技术是指通过一系列的措施和方法,提高集成电路对辐射环境的抵抗能力,从而确保电路的可靠性和稳定性。在现代社会中,辐射环境无处不在,包括太空、高海拔地区、核电站、医疗设备等,辐射对集成电路的影响不可忽视。
图书 > 电子与通信 > 微电子学、集成电路(IC) > 科学出版社(SCIENCE PRESS) > 集成电路器件抗辐射加固设计技术 自营 科学出版社京东自营官方旗舰店 集成电路器件抗辐射加固设计技术 闫爱斌等 著 京东价 ￥ 促销 展开促销 配送至 --请选择-- 支持
技术 器件 集成电路 进行 分析 加固 器件 辐射加固 性能 设计 介绍 内容 技术 这些 环境 可以 内容摘要 《集成电路器件抗辐射加固设计技术》是一本关于集成电路器件抗辐射加固设计的权威书籍。本书旨在介绍集成电路器件在面临各种辐射环境时的性能表现，以及如何通过设计手段来提高其抗辐射性能。本书内容丰富，覆盖面广...
《集成电路器件抗辐射加固设计技术》具备如下特点:率先考虑到强辐射环境下集成电路器件的容错设计问题,创造性地实现了锁存器的四节点翻转的容忍与在线自恢复,以及主从触发器、SRAM 存储单元及表决器的新型抗辐射加固设计;全面而详细地介绍了辐射与抗辐射的相关重要概念、常用的抗辐射加固设计组件,并给出了新颖的集成电路...
技术.通过学习本书内容,读者可以强化对集成电路器件抗辐射加固设计技术的认知,了解该领域的当前近期新研究成果和相关技术.本书可供普通高等院校集成电路科学与工程,电子信息工程,微电子科学与工程,计算机科学与技术等专业的本科生和研究生阅读,也可供电路与系统研发工程师,芯片可靠性设计工程师和集成电路容错设计爱好者...
《集成电路器件抗辐射加固设计技术》是2023年科学出版社出版的图书，作者是闫爱斌等。内容简介 《集成电路器件抗辐射加固设计技术》从集成电路器件可靠性问题出发，具体阐述了辐射环境、辐射效应、软错误和仿真工具等背景知识，详细介绍了抗辐射加固设计（RHBD）技术以及在该技术中常用的相关组件，重点针对表决器、锁存器、...