国际标准分类中,锡须试验方法涉及到半导体分立器件、表面处理和镀涂、金属材料试验。 在中国标准分类中,锡须试验方法涉及到光电子器件综合、半导体分立器件综合、基础标准与通用方法、材料防护、金属力学性能试验方法、电子元件综合、金属化学性能试验方法。 (美国)固态技术协会,隶属EIA,关于锡须试验方法的标准 JEDEC JESD22A...
常见的锡须试验方法是通过环境试验进行加速模拟,目前做得最多的方法是以下几种: 1,高温高湿时锡须生长曲线 2,冷热冲击时锡须生长曲线 3,室温时锡须生长曲线 4,施加纵向压力时锡须生长曲线 从下图曲线可以看出,高温高湿是最理想的试验项目,其次是冷热冲击模拟测试。 锡须建议解决方法: 1、镀层工艺的改进,在Cu上镀镍...