本申请提供了一种晶圆测试针痕的检测方法以及检测装置,该方法包括:获取目标图像,目标图像包括晶圆的引脚图像以及覆盖部分引脚的针痕图像;根据目标图像,确定针痕的尺寸信息以及针痕在引脚上的位置信息;根据尺寸信息以及位置信息,确定针痕是否合格。本申请解决了现有技术中晶圆针测后针痕检测效率较低的问题。
金融界2025年3月26日消息，国家知识产权局信息显示，苏州高视半导体技术有限公司申请一项名为“针痕过滤检测方法、电子设备及存储介质”的专利，公开号CN 119672030 A，申请日期为2025年2月。专利摘要显示，本申请公开 了一种针痕过滤检测方法、电子设备及存储介质。该针痕过滤检测方法包括：获取待检测芯片的焊盘区域图...
金融界 2024 年 7 月 17 日消息，天眼查知识产权信息显示，矽电半导体设备（深圳）股份有限公司申请一项名为“针痕检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品“，公开号 CN202410334384.4，申请日期为 2024 年 3 月。专利摘要显示，本申请公开了一种针痕检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品，属于图像处理技术...
8.一种针痕偏移检测方法,其特征在于,所述方法包含: 利用一探针组接触一半导体装置,其中该半导体装置包含一第一测试垫与多个第二测 试垫,其中该第一测试垫包含一中央部与多个周边部,该些周边部邻近于该中央部的边缘 设置,该些周边部彼此互不接触,该第一测试垫具有多个检测方位,且各该检测方位上至少 设有一个...
道格特半导体取得基于针痕照片的探针卡针痕检测专利 炒股第一步,先开个股票账户 金融界2025年1月25日消息,国家知识产权局信息显示,道格特半导体科技(江苏)有限公司取得一项名为“一种基于针痕照片的探针卡针痕检测方法及系统”的专利,授权公告号 CN 119006991 B,申请日期为 2024年10月。
迪贝尔芯片针痕深度检测系统是由天津市迪贝尔科技发展有限公司著作的软件著作,该软件著作登记号为:2014SR189738,属于分类,想要查询更多关于迪贝尔芯片针痕深度检测系统著作的著作权信息就到天眼查官网!
金融界2025年1月7日消息，国家知识产权局信息显示，上海朋熙半导体有限公司取得一项名为“一种芯片Pad中针痕触边检测方法、设备、介质及产品”的专利，授权公告号 CN 118552576 B，申请日期为2024年7月。天眼查资料显示，上海朋熙半导体有限公司，成立于2019年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备...
金融界2025年1月25日消息,国家知识产权局信息显示,道格特半导体科技(江苏)有限公司取得一项名为“一种基于针痕照片的探针卡针痕检测方法及系统”的专利,授权公告号 CN 119006991 B,申请日期为 …
深圳米飞泰克取得检测针痕的方法、装置及电子设备专利 金融界2024年11月13日消息，国家知识产权局信息显示，深圳米飞泰克科技股份有限公司取得一项名为“检测针痕的方法、装置及电子设备”的专利，授权公告号 CN 118096643 B，申请日期为 2023年12月。本文源自：金融界 作者：情报员 ...
金融界2025年1月24日消息,国家知识产权局信息显示,长春光华微电子设备工程中心有限公司取得一项名为“一种探针台针痕检测方法”的专利,授权公告号 CN 113075233 B,申请日期为2021年4月。 天…