一、基础原理深度解析 扫描电镜（SEM）的原理 1. 电子束扫描：扫描电镜通过电子枪发射的电子束在样品表面扫描，与样品原子相互作用产生二次电子、背散射电子等信号。2. 信号特性：o 二次电子（SE）：主要用于成像，反映表面形貌，空间分辨率较高。o 背散射电子（BSE）：与原子序数相关，反映样品成分对比。o X射线...
当然，透射电镜的稳定运行也离不开真空系统和供电控制系统的支持。真空系统通过排除镜筒内的气体，确保了镜筒的高真空度，从而避免了电子与气体分子之间的碰撞散射，保证了成像的清晰度。而供电控制系统则负责提供稳定的加速电压和透镜磁电流，以确保电镜的分辨本领不受影响。在功能方面，透射电镜不仅可以显示出固体物质高...
扫描电镜的结构则包括电子枪、电磁透镜、扫描线圈、探测器和显示系统等。电子枪产生电子束,电磁透镜将电子束聚焦成纳米尺度,扫描线圈控制电子束在样品表面扫描,探测器收集样品发出的信号并转换成图像,最终通过显示系统展示给用户。 sem扫描电子显微镜 二、功能应用的差异 透射电镜不仅可以观察样品的内部形貌,还可以分析样品...
由于透射电镜物镜焦距很短,也因此具有很小的像差系数,所以透射电镜具有非常高的空间分辨率,0.1-0.2nm,但景深比较小,对样品表面形貌不敏感,主要观察样品内部结构。 扫描电镜:电子束到达样品,激发样品中的二次电子,二次电子被探测器接收,通过信号处理并调制显示器上一个像素发光,由于电子束斑直径是纳米级别,而显示器的...
当然,EDX能谱分析在扫描电镜(SEM)系统中也是常见分析方法,并用于通过检测样品被电子撞击时发射的X射线来识别样品的成分。 电子能量损失光谱(EELS)只能在以扫描透射电镜(STEM)模式工作的透射电镜(TEM)系统中实现,并能够反应材料的原子和化学...
透射电镜的探测器主要收集穿过样品的电子,对电子的能量和方向等信息进行分析。扫描电镜的探测器则侧重于收集从样品表面激发的二次电子等信号,以构建样品表面的形貌图像。 这些结构上的差异使得透射电镜在研究样品内部结构和晶体缺陷等方面具有优势,而扫描电镜在观察样品表面形貌、粗糙度和成分分布等方面表现出色。
扫描电镜（SEM）与透射电镜（TEM）的区别 在现代科学研究和工业应用中，电子显微镜是不可或缺的工具。主要的电子显微镜类型包括扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）。尽管它们都用于高分辨率的图像获取，但在原理、应用和功能上存在显著差异。一、 基本原理 1.扫描电子显微镜（SEM）：主要利用电子束扫描样品...
扫描电镜(SEM) vs 透射电镜(TEM):操作上的差异 这两种电子显微镜系统在操作方式上也有所不同。 扫描电镜(SEM)通常使用 15kV 以上的加速电压,而透射电镜(TEM)可以将其设置在 60-300kV 的范围内。 与扫描电镜(SEM)相比,透射电镜(TEM)提供的放大倍数也相当高:透射电镜(TEM)可以将样品放大5000万倍以上,而对于扫...
高分辨率的透射电子显微镜(TEM)和扫描电镜(SEM)在材料分析研究中的应用日趋广泛,已经成为现代实验室中一种不可或缺的研究晶体结构和化学成分的综合仪器。透射电子显微镜常用于观察普通显微镜不能分辨的细微物质结构,扫描电子显微镜主要用于观察固体表面的形貌。有时,将两者有机结合可以得到比较全面的材料分析结果。下面将从...
扫描电镜（SEM）提供样品表面的 3D 图像，而透射电镜（TEM）图像是样品的 2D 投影，这在某些情况下使操作员对结果的解释更加困难。 由于透射电子的要求，透射电镜（TEM）的样品必须非常薄，通常低于 150nm，并且在需要高分辨率成像的情况下，甚至需要低于 30nm，而对于扫描电镜（SEM）成像，没有这样的特定要求。这...