X射线光电子能谱(XPS):激发源为X射线,用X射线作用于样品表面,产生光电子。通过分析光电子的能量分布得到光电子能谱。用于研究样品表面组成和结构。又称为化学分析光电子能谱法(ESCA)。 紫外光电子能谱(UPS):激发源为紫外光,只能激发原子的价电子,用于量子化学研究。 俄歇电子能谱(AES):激发源为电子束,用于表面...
俄歇电子强度除与原子的浓度有关外,还与样品表面的光洁度、元素存在的化学状态以及仪器的状态(谱仪对不同能量的俄歇电子的传输效率不同)有关,谱仪的污染程度、样品表面的C和O的污染、吸附物的存在、激发源能量的不同均影响定量分析结果,所以,AES不是一...
主要有:俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS) 、紫外光电子能谱(UPS)。 俄歇电子能谱法(AES) AES可以用于研究固体表面的能带结构、表面物理化学性质的变化(如表面吸附、脱附以及表面化学反应);用于材料组分的确定、纯度的检测、材料尤其是薄膜材料的生长等。? 俄歇电子能谱(Auger Electron ...
俄歇电子强度除与原子的浓度有关外,还与样品表面的光洁度、元素存在的化学状态以及仪器的状态(谱仪对不同能量的俄歇电子的传输效率不同)有关,谱仪的污染程度、样品表面的C和O的污染、吸附物的存在、激发源能量的不同均影响定量分析结果,所以,AES不是一种很好的定量分析方法,它给出的仅仅是半定量的分析结果。 根...
表面分析方法的种类和对应的作用如下图所示非常复杂,如果不是很了解表面分析,我们可能会对自己要测的目标样品无从下手。 EDX(EDS)、AES、XPS(ESCA)、TOF-SIMS是代表性的几种表面分析方法,都具备一定的定性和定量能力,在实际的应用过程中也很容易混淆。本文会分享关于这几种典型的表面分析方法的介绍和对比,希望可以...
材料的表面分析技术主要有3种:俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS) 、原子力显微镜(AFM),今天主要对比学习前两种。 什么是电子能谱分析法? 电子能谱分析法是采用单色光源(如X射线、紫外光)或电子束去照射样品,使样品中电子受到激发而发射出来(这些自由电子带有样品表面信息),然后测量这些电子的产额...
EDX AES XPS SIMS 入射粒子 电子 电子 X射线 一次离子 检测粒子 X射线 俄歇电子 光电子 二次离子 三、性能对比 从设备的特征和性能方面来看,这几种表面分析方法的主要异同如下表。 EDS AES XPS TOF-SIMS 元素范围 B ~ U Li ~ U Li ~ U 全元素 信息深度 数μm 数nm 数nm 1nm 信息类型 元素 元素、...
本国际标准规定了离子束对准方法,以确保在俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱中使用惰性气体离子时,溅射深度分析具有良好的深度分辨率,并能实现最佳的表面清洁。这些方法有两种类型:一种是使用法拉第杯来测量离子电流;另一种是使用法拉第杯来测量离子电流。另一个涉及成像方法。法拉第杯方法还指定了离子束中电流密度和电...
⑤无机物的整体分析：EDX；无机物的薄膜（多膜层）分析：AES、XPS、TOF-SIMS ⑥样品表面损伤：EDX和...
XPS、SEM-EDS、AES、TOF-SIMS四种表面分析技术的特点和区分XPS、SEM-EDS、AES、TOF-SIMS四种表面分析技术的特点和区...小夕彼编辑于 2024年01月31日 02:32 自留:SEM-EDS和XPS分辨率 测试深度如图 分享至 投诉或建议评论 赞与转发0 0 1 0 0 回到旧版 顶部登录哔哩哔哩,高清视频免费看! 更多登录后权益等...