X射线衍射线宽法的应用: 晶体缺陷研究:X射线衍射线宽法可用于分析晶体中的点缺陷、位错等缺陷结构,从而了解晶体内部的缺陷性质。 晶格应变分析:通过观察衍射峰的位移和宽度变化,可以推断晶体中的应变状态,包括弹性应变和塑性应变。 晶粒大小测定:X射线衍射线宽法还可用于测定晶体的晶粒大小,即晶体中各个晶粒的尺寸分布。
1)利用不同波长λ的X射线进行测试:如果衍射线宽随λ而改变,则宽化由晶粒尺寸引起,反之由微观应力引起; 2)利用不同衍射线计算线宽并观察其随θ角的变化规律:βcosθ为常数,是由晶粒尺寸引起的宽化;βctgθ为常数,是由微观应力引起的宽化。 3)如果同时存在晶粒尺寸和微观应力宽化,就复杂得多,牵涉到两种宽化效...
\Delta k) $ 的第一个零点定义了 X 射线衍射的半线宽$ \Delta_{i} $, 证明 :$ \Delta_{i}=\frac{2 \pi}{N_{i}}$ ;\par (c) 对于一个无限大的晶体, $ N_{i} \rightarrow \infty$ , 证明: $I=c^{2} \delta_{k^{\prime}-k, \boldsymbol{K}_{k}}$ .\par 解:(a) $$ \b...
聊一聊光刻机与芯片制造的那些事情。 这篇文章整理了关于光刻和工艺的一些资料,本身不是这个专业的都是现学现卖+炒冷饭,如果有错误请大佬轻拍理性指出,遇杠则杠。 摩尔定律的发展虽然在不断的放慢,但就目前而言半导体工艺的发展距离天花板还有很长的一段距离,根据Jim Keller的预计,未来100倍于Intel 10nm的密度都还...
犐犆犛19.100 犖78 中华人 民共和 国国家 标准 / — 犌犅犜23413 2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 犡射线衍射线宽化法 — 犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳犮狉狊狋犪犾犾犻狋犲狊犻狕犲犪狀犱犿犻犮狉狅 狊狋狉犪犻狀狅犳狀犪狀狅 犿犪狋犲狉犻犪犾狊 狔 犡 狉犪 犱犻犳犳狉犪犮狋犻...
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衍射相位光栅主要是分光，是通过透射或反射光的相位差实现调制和分离的，线宽精度和深度精度分别是±0.2um和≤20nm，通过光刻技术制作，主要应用于衍射分光和脉冲压缩等应用。维尔克斯光电的高精度光栅是一个非常不错的选择，如图1，有锯齿型和台阶型的光栅供用户选择，而且还可根据用户的应用需求定制合适的精密光栅...
本标准规定了利用x射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。 本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm,微观应变一般不大于0. 1%的纳米材料。纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法, Determination of
GBT 23413 2009 纳米 材料 晶粒 尺寸 微观 应变 测定 射线 衍射 线宽化法 《GBT 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法》由会员分享,可在线阅读,更多相关《GBT 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法(10页珍藏版)》请在人人文库网上搜索。温馨...