四探针电阻率电导率计规格参数电压测量范围：±100μV ~ ±10V电流测量范围：±1μA ~ ±150mA薄层电阻测量范围：100mΩ/□ ~ 10MΩ/□ (欧姆/平方)探针间距：1.27mm 方形样品尺寸范围：长边***小5mm, 短边***大60mm 圆形样品尺寸：直径5mm ~76.2mm ***大样品厚度：10mm 整体尺寸：W145mm x H150m...
ossila四点探针系统是一种易于使用的工具,用于快速测量材料的薄层电阻、电阻率和电导率。 ossila四点探针以ossila源测量单元为核心,是一种低成本的系统,可实现宽的测量范围。探头使用弹簧加载触点而不是尖锐的针头,防止损坏精细的样品,例如厚度在纳米量级的聚合物薄膜。价格包括一个四点探针、内置源测量单元、易于使用...
3.28半径为和RI(/?,</?,)的两个同心的理想导体球面间充满了介电常数为£、电导 率为Z=ZO(I+∕f∕r)的导电媒质(K为常数)。若内导体球而的电位为匕),外导体球而接地。试求:(I)媒质中的电荷分布;(2)两个理想导体球面间的电阻。 解 设由内导体流向外导体的电流为/•由于...
四探针电阻率电导率计可快速测量材料的薄层电阻,方块电阻,sheet resistance电阻率和电导率,适合多种材料和样品测量。 四探针电阻率电导率计采用弹簧加载接触技术,而不是锋利针头,这样就可以避免损坏精密样品,比如纳米级厚度的聚合物薄膜等。 该四探针电阻率电导率计包括一个四点探针、源测量单元和易于使用的PC软件,为...