MOS晶体管性能的好坏是通过MOS晶体管输出电流－电压特性曲线进行衡量的，而关于MOS晶体管输出电流－电压特性的经典描述恰恰就是萨支唐方程。萨氏方程（萨支唐方程）除了萨支唐方程的产业、学术贡献以外，萨支唐还长期致力于微电子学研究，对发展晶体管、集成电路以及可靠性研究作出了里程碑性质的贡献。他提出了半导体p-n结