在现代芯片设计与制造的精密世界中，Trim（修调）技术发挥着至关重要的角色。它是一种调整芯片内部参数的手段，以抵消工艺偏差，满足不同应用的需求。Trim方法多样，包括Poly Fuse、Metal Fuse、Laser Trim、Zener Trim和EPROM/EEPROM Trim，每种方法都有其独特的优势和适用场景。1. 外部数据与物理手段 ...
芯片测试中的Trim 芯片出厂前测试概述 电源测试 芯片测试相关的基础知识(三) 芯片测试相关的基础知识(二) 芯片测试相关的基础知识(一) LED显示屏EMC改进的几种方法 BUCK-BOOST 拓扑电源原理及工作过程解 几种高效的电路分析方法 芯片老化测试的分类/测试弹片 热文排行 关于Cpk的一些知识 芯片测试的几...
dcdc buck芯片ate测试中的trim技术研究word格式论文.docx,学位论文原创性声明本人郑重声明:所呈交的学位论文《DC-DCBuck芯片ATE测试中的Trim技术研究》,是本人在导师的指导下,独立进行研究工作所取得的成果。除文中已经注明引用的内容外,本论文不包含任何其他个人或集体
本发明主要涉及芯片测试,尤其涉及一种芯片的trim测试方法和自动测试设备。背景技术trim是在芯片测试中对电路内部的一些参数进行修调的过程。这些参数可以是参考电压、偏置电流、带隙电压和/或震荡电路频率等参数。trim测试可以测出电路中一些参数的值,如果参数的值与目标值(targetvalue)有偏差,还可以对参数进行修正和调整...
4. 进入工程后按照下图步骤操作:先将CW的PE工具窗口选项级别选择成Expert专家级,再选择开发板上芯片封装对应型号,接着输入自己想要trim的频率(需在31.25KHz~39.0625KHz范围内)。 赞 回复 举报 提交评论 lee_st · 2016-6-8 10:22:42 6# 5. 为了使大家能够更直观地查看内部IRC时钟是否已经真正被trim...
首先,本论文基于自动测试机ASL1000为Dialog公司生产的一款快充芯片iW627设计了测试系统。该测试系统可以对芯片的直流参数,包括连接性、漏电流和阻抗进行测试以及功能参数,包括上电复位、过压保护和欠压锁定进行测试。其次,为了降低制造工艺偏差的影响,设计芯片内部带隙基准电压源和振荡器两个模块的trim修调电路,并且设计...
2. 基于EEPROM的trim技术 待测芯片采用EEPROM作为存储单元的修调技术,该技术可重复擦写,具有很高的灵活度。 上图中,每一个数字信号位都对应了一个电阻和一个开关,电阻从低位到高位的值分别为R,2R,4R,8R, 其对应的寄存器码值为0001,0010,0100,1000。
在现代芯片设计与制造的精密世界中，Trim（修调）技术发挥着至关重要的角色。它是一种调整芯片内部参数的手段，以抵消工艺偏差，满足不同应用的需求。Trim方法多样，包括Poly Fuse、Metal Fuse、Laser Trim、Zener Trim和EPROM/EEPROM Trim，每种方法都有其独特的优势和适用场景。1. 外部数据与物理手段 ...
探索芯片世界的精密调校：Trim技术的奥秘与应用 在现代芯片设计与制造的精密世界中，Trim（修调）技术发挥着至关重要的角色。它是一种调整芯片内部参数的手段，以抵消工艺偏差，满足不同应用的需求。Trim方法多样，包括Poly Fuse、Metal Fuse、Laser Trim、Zener Trim和EPROM/EEPROM Trim，每种方法都有其...
IC测试术语 芯片测试中的Trim AEC-Q系列标准中的静电放电(ESD)测 V93000学习入门(8) NAND Flash 存储器测试 基于ATE的IC测试原理(2) V93000学习入门(5) V93000学习入门(4) V93000学习入门(2) V93000学习入门(1) 热文排行 系统级测试(SLT)详解 测试不稳定怎么办 芯片测试之HTOL UHAST BHAST...