芯片及板级辐射发射自动化测量系统用于对IC芯片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件进行近场EMI辐射发射噪声的自动化测量,并进行量化分解,是解决产品内部各组件及小系统内部干扰问题的有效手段。 项目详细信息 技能: EMI 类别: EMC测试系统 由: 东昇智汇