数字芯片漏电流测试,又称为Leakage Test,对于一般的输入Pin来说,有IIH和IIL两种,IIH/L分别代表Current(I)、Input(I)、High(H)/Low(L),也就是输入高和输入低两种情况的漏电流;对于具有三态输出状态的输出Pin来说,有IOZH和IOZL两种,IOZH/L分别代表Current(I)、Output(O)、Tri-State(Z)、High(H)/Low(L...
其原理是通过在测试芯片关闭状态下施加足够高的反向偏置电压,然后测量从芯片引脚流出的漏电流。 通常,芯片的关断状态下应该有接近于零的漏电流。但是由于一些因素如晶体管参数不一致、杂质等原因,会导致芯片在关断状态下存在小的漏电流。 在leakage测试中,测试设备会通过施加高反向偏置电压,将芯片的温度加速至一定程度...
漏电流是一种芯片常见测试项,常用来对输入引脚测试(含io的in状态),包括IIL和IIH输入漏电流测试,通过对输入漏电流的测试,能测试到输入端到vdd和vss端的电阻,确保满足设计要求,输入漏电流测试也是对器件是否静电损坏的重要测试项。 IIL为在force低电压VSS时,测试vdd端到输入端的漏电流,此时输入端的逻辑电平为1。因...
Leakage的含义是漏电,测试的对象是input pin,即测量输入管脚在输入时是否存在漏电,以及漏电的大小是否在设计要求之内。有两点问题需要注意下,一是确定测试对象,二是有没有上下拉电阻。针对问题一,测试对象是input pin,此时需要注意input pin可直接进行测量,但如果是IO pin,需要配置到input状态(这个问客户)。问题二是否...
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