EDS分析是利用元素的特征X射线,而氢和氦原子只有K层电子,不能产生特征 X 射线,所以无法进行成分分析,锂(Li)和铍(Be)虽然能产生X射线,但产生的特征X射线波长太长,能量小,通常无法进行检测,目前元素分析元素范围一般从硼(Be)-铀(U)。 在这里提醒一下,一般以谱图上出峰来判断是否有该元素,对于某些元素,有时...
其中,特征X射线是高能电子激发原子的内层电子,使原子处于不稳定态,从而外层电子填补内层空位使原子趋于稳定的状态,在跃迁的过程中,直接释放出具有特征能量和波长的一种电磁辐射,即特征X射线。 图1:高能电子轰击样品表面所能产生的各种信号 二、能量色散X射线谱仪(EDS)的结构与工作原理 不同元素发射出来的特征X射线能...
X 射线能谱仪和能量色散 X 射线荧光分析 核科学与技术系 杨珺 荣丽媛 指导老师 张雪梅 摘要 能量色散 X 射线荧光分析是一种重要的物质元素成分分析方法 新型 Si PIN 型X 射线探测器采用半导体制冷 具有很高的能量分辨率 并具有小型化、便携式的优点。本文着眼于 Si PIN 型 X 射线探测器的使用方法和最优条件 ...
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二者都是表面元素分析,eds比xps测试的深度更大一些,大约几个微米,但是其精度远不如xps,不能做元素形态分析, 7 评论0 举报 温言软语,工艺专业主任 2018-04-22回答 xps是对固体样品表面进行化学成分的定性分析、半定量分析、元素化合价的分析,以及进行元素成分的深度剖析。eds是元素定性、定量分析;元素的线分布和...
是美国进口的高性能固态能量色散X射线 能谱仪探测器 。SiLi探测器 可用于所有应用，也可用于特殊的多元件设计。低能量响应 LN2探测器提供you异的轻元素X射线响应。 低能x射线在硅中不会渗透很远，因此大多数事件发生得非常接近晶体的前接触，其中电荷的分数容易损失。 这可能导致峰值变宽，拖尾甚至能量转换。 ILN2...
LN2探测器是美国技术的高性能固态能量色散X射线能谱仪探测器。 SiLi探测器可用于所有应用,也可用于特殊的多元件设计。 低能量响应 LN2探测器提供优异的轻元素X射线响应。 低能x射线在硅中不会渗透很远,因此大多数事件发生得非常接近晶体的前接触,其中电荷的分数容易损失。 这可能导致峰值变宽,拖尾甚至能量转换。
上不存在连续的散射背景,具有极佳的峰背比、极低 的检出限,可以对微量轻元素进行定量检测.单波 长激发能量色散 X射线荧光光谱法具有功率低、无 需冷却水、光管寿命长等优点,且单波长激发能谱与 波谱相比,前者价格便宜、操作简单,更加易于维护. 经查阅相关文献[2G5],未见有关单波长激发能量色 散 X射线荧光光谱法...
5.1 能量色散X射线荧光光谱仪:任何可用于本试验方法的能量色散X射线荧光光谱仪,至少要满足以下条件: 5.1.1 X射线激发源:X射线管的有效能量高于2.62keV. 5.1.2 X射线探测器:对能量分别为2.02keV、2.30keV和2.62keV的磷、硫、氯元素 特征X射线有较高灵敏度,分辨率不超过800eV,建议使用充气正比计数器。 5.1.3 进...