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现代集成电路半导体器件胡正明课后答案 Chapter 2 Mobility 2.1 (a) The mean free time between collisions using Equation (2.2.4b) is sec 1085.213-⨯==→=q m m q n n mn n mn n μττμ where μn is given to be 500 cm 2/Vsec (= 0.05 m 2/Vsec), and m n is ...
现代集成电路半导体器件 作者:胡正明(Chenming Calvin Hu) (作者), 王燕 (译者)出版:电子工业出版社 2012.7丛书:国外电子与通信教材系列页数:272定价:49.00 元ISBN-13:9787121176623ISBN-10:7121176629 去豆瓣看看 想要 拥有 00暂无人评价... 目录作者简介内容简介 《现代集成电路半导体器件》系统介绍了现代集成...
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集成电路中的现代半导体器件(英文版)胡正明_ch7 2597MOSFETs in ICs—Scaling, Leakage, and Other Topics CHAPTER OBJECTIVESHow the MOSFET gate length might continue to be reduced is the subject of this chap-ter. One important topic is the off-state current or the leakage current of the MOSFETs....
现代集成电路半导体器件 胡正明 所属分类:其他 上传者:zhoubin333 文档大小:9037 K 标签: 集成电路 半导体 所需积分:0分积分不够怎么办?文档介绍:现代集成电路半导体器件 胡正明 现在下载 VIP会员,AET专家下载不扣分;重复下载不扣分,本人上传资源不扣分。
FinFET是现代纳米电子半导体器件制造的基础,现在7nm芯片使用的就是FinFET设计。 关于IEEE荣誉奖章 IEEE荣誉奖章(IEEE Medal of Honor),创立于1917年,每年仅授予一人,是国际电子电气工程学会的最高荣誉,也是世界电气电子工程学界的最高奖励。 历史获得该奖章的知名人士还有晶体管发明者巴丁和信息论创始人香农。
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