德国ZEISS蔡司聚焦离子束扫描电镜FIB/SEM:Crossbeam 350,Crossbean 550 持术参数 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的结算价格为准,如用户在爱采购上完成线上购买,则最终以...
FIB技术主要利用重离子(如镓离子)束,这些离子通过电场加速后,能够聚焦到非常小的点上(通常直径小于10纳米)。当这些高能离子与样品材料相互作用时,会产生几种不同的效果: 物理刻蚀:离子与样品表面原子碰撞,导致样品表面原子被“敲击”出来,从而实现材料的去除或刻蚀。 化学沉积:通过引入特定前体气体,离子束可以促进气体...
FIB采用高强度聚焦离子束纳米加工材料,并结合扫描电镜(SEM)和其他高倍数电子显微镜进行实时观测,已成为纳米级分析,制作的主要手段。02 主要应用 用途及功能 定点剖面形貌和成分表征;TEM样品的制备;微纳结构的处理;芯片线路的重构;切片式的三维重构;材料的传递;三维原子探针样品的制备;适用领域 结构分析、材料...
聚焦离子束技术(Focused Ion beam,FIB)是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的离子束轰击材料表面,实现材料的剥离、沉积、注入、切割和改性。 FIB采用高强度聚焦离子束纳米加工材料,并结合扫描电镜(SEM)和其他高倍数电子显微镜进行实时观测,已成为纳米级分析,制作的主要手段。 02 主要应用 用途及功能 定点剖面形貌和...
聚焦离子束-扫描电镜(Focused ion beam – scanning electron microscopy,FIB-SEM)是一款集高分辨场发射扫描电镜(SEM)的成像功能和聚焦离子束(FIB)的切割功能为一体双束系统,主要用于对岩石中的矿物、有机质(或干酪根)和孔隙进行微米-纳米尺度的高精度的三维成像。
TESCAN聚焦离子束可变真空扫描电镜 -VELA 3 XMU 公司介绍 TESCAN总部坐落在捷克共和国布尔诺市,作为范围内的科学仪器制造商,TESCAN专注于于研究、开发、制造扫描电子显微镜及其相关附件和特殊产品,为建立在扫描电子显微镜以及针对不同应用的相关系统解决方案领域内的品牌做出不懈努力。
本公司生产销售离子束扫描电镜 扫描电镜 芯片修,提供离子束扫描电镜专业参数,离子束扫描电镜价格,市场行情,优质商品批发,供应厂家等信息.离子束扫描电镜 离子束扫描电镜 品牌|产地浙江|价格1200.00元|资质CMA ISO9001|付款方式对公|类别检测分析研发服务|类型检测分析研发服
TESCAN聚焦离子束扫描电镜-LYRA 3 XMH 一、 公司介绍: TESCAN总部坐落在捷克共和国布尔诺市,作为 范围内的科学仪器制造商,TESCAN专注于于研究、开发、制造扫描电子显微镜及其相关附件和特殊产品,为建立在扫描电子显微镜以及针对不同应用的相关系统解决方案领域内的品牌做出不懈努力。 通过参与好的端研究项目,通过和其他电...
项目简介 FIB是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的离子束轰击材料表面,实现材料的剥离、沉积、注入、切割和改性。对于金属、岩石、锂电等不同的材料可实现定点剖面形貌和成分表征 、TEM样品制备、微纳结构加工、切片式三维重构、三维原子探针样品制备等功能。