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B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统是将被测元件放置于一定的环境温度中,...
主营商品:振动台、雾度计、led光源、皮带传动、数据细节、切断加热、收纳抽屉、仪器自带、样品测量、测试数据、塑料阻燃、液晶触摸、纸品包装、静电喷涂、计时空气、整机电源、电脑打印、外观操作、观察仪器、粉体烤漆、测量准确、平稳台面、涡轮风扇、水平垂直、灼热丝仪 进入店铺 全部商品 09:29 x** 联系了该商品...
4.高温高湿测试环境:H3TRB能够提供高温高湿的测试环境,模拟实际使用条件下的情况,从而更加准确地评估器件的性能。 总之,H3TRB是一种高温高湿反偏老化测试系统,能够满足各种封装形式的半导体器件的测试需求。该测试系统具备实时监测、漏电流超上限断电保护、全过程试验数据保存等...
带功率(DHTOL)老化测试系统 •测试目的:基于实际应用环境搭建老化参数测试系统,可对 SiC/GaN器件在动态功率循环条件下的老化特性进行分析测 试。应用级老化过程参数监测,动态导通电阻,VTH等参数 测试 •系统特点:DHTOL功率半导体器件老化试验设备,可以使被 ...
B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统适用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。 B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统是将被测元件放置于一定的环境温度中,(...
1. 长时间运行测试 交流充电桩老化测试系统能够模拟充电桩在实际使用中的长时间运行场景，通过连续供电和负载模拟，检测充电桩在长时间运行下的性能变化。这一功能有助于发现充电桩在长期使用过程中可能出现的问题，如温升过高、性能下降等。2. 负载模拟与调节 系统内置了多种负载模拟模块，能够模拟电动汽车电池在不同...
HAST/B-HAST高加速寿命老化测试系统 评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。 HAST/B-...
鲁大师36个月老化测..模拟过程包括:连续文件填充、模拟碎片化过程、重负载测试、10个日常应用连续冷启动、1000条联系人导入时间、8个典型应用、文件拷贝与闪存测试等,共测试三轮取平均值。vivo X Note以2.90%的
利用Advantest 的 7038 系统级测试平台发展您的 SLT 战略。7038 是一款全自动、大规模并行、高度模块化的系统级测试平台,可为大批量、高测试时间的产品提供业内最具成本效益的 SLT 解决方案。 7038 可以测试各种集成半导体器件和应用,包括移动、汽车、计算/服务器、人工智能等,并能在 "任务模式 "下验证性能和功...