EDS线扫 在线扫模式下，EDS通过在样品表面选择一条线进行扫描。这种模式可以提供沿一条线的元素分布信息。通过沿着一条线的连续测量，可以得到这条线上不同位置的化学成分变化情况，包括元素种类和相对含量。线扫模式还可以用于检测界面、分析材料的元素扩散等应用。适用情况建议：线扫适合于分析样品表面上的元素分布情况，或者检测材料中的界面、元素扩散等。如
一般采用该定量分析方法对材料晶界、夹杂、析出相、沉淀物、材料的组成等进行分析。线扫描分析是指电子束沿选定直线进行扫描的同时,将对应的信号强度显示出来,该方法可以更直观地表明元素质量分数不均匀性与试样组织之间的关系。因此线扫描分析可用于测定某元素在相区或界面上的富集和贫化现象。另外,线扫描分析可用来测定...
区别如下：1、点面分析：只对样品的某一点进行分析，得到该点的成分含量和X射线谱。适用于要对样品局部区域进行分析的场合。2、线扫描：沿着样品表面的直线轨迹进行分析，得到该直线轨迹上各点的元素浓度分布情况。适用于要对某一直线轨迹上的元素分布情况进行分析的场合。3、面分布图：对样品表面某一区...
一般Mapping导航器里的Linescan的线扫描分析只是相对量的趋势变化.而在Point&ID导航器里借助Lines&Grids软件就可以轻松实现重量百分比或原子百分比的线分布分析. 1:Lines&Grids中的工具任意拉一条线,并划分为任意指定的点,能谱将逐点采集谱图 2:所有点的谱图定量结果都存储下来 3:线性峰型选项中可对任意元素...
第四章线性扫描伏安法 §1概述将一快速线性变化电压施加于电解池上，并根据所得的电流一电压曲 线进行分析的方法，称为线性扫描伏安法。这种方法的主要特点是加电压的速度很快，可用图1和式1表示。式中：Ei为起始电位，v为电压扫描速度，t为时间，E为扫描开始后任一时间的电位。线性...
SEM（扫描电子显微镜）因其高放大倍数、高分辨率和景深等特性，与X射线能谱仪结合后，能自动且迅速地对样品进行元素组成的定性或半定量分析。EDS的定量分析方法主要包括点分析、线扫描分析和面扫描分析，这些方法各有其独特之处，可根据不同的试样和分析需求进行选择。点分析是将电子束聚焦在试样上的特定点上，进行...
线分析是也称作线扫,是指电子束沿样品表面选定的直线轨迹作所含元素浓度的线扫描分析。例如某一样品由不同层次组成,如果要确定每一层次的成分时,就可以用到线分析,即在该样品的截面图像上从样品内部向表面拉一条直线,电子束沿着直线进行扫描,采集每一层次元素的特征X射线并计数,每条曲线的高低起伏反映所对应元素沿...
元素变化强烈的样品,要分析的点会很多,此时定量点分析法已很困难,通常只能用线扫描分析法。 本文以JCXA-733电子探针和AN10000能谱为例对线分析的方法进行探讨和改进。 常规的电子探针分析有: 图1 波谱仪线扫描失真(1)电子束40倍扫描(铜标样,Cu) (2)样品台移动中部失焦(凸石榴石,Mn) ...
第4章 线性扫描伏安法分析 第四章线性扫描伏安法 ❖§1概述❖将一快速线性变化电压施加于电解池上，并根据所得的电流一电压曲 线进行分析的方法，称为线性扫描伏安法。这种方法的主要特点是加电压的速度很快，可用图1和式1表示。❖式中：❖Ei为起始电位，❖v为电压扫描速度，❖t为时间，❖E为扫描...
包括定量点分析和线扫描分析 对于样品较大 , 元素变化强烈的样品,要分析的点会很多,此时定量 点分析法已很困难 ,通常只能用线扫描分析法。 本文 以JCXA一733电子探针和 AN10000能谱为侧对线分析的方法进行探讨和改进。 常规的电子探针分析有 : 1.电子束扫描波谱线分析。此法一般 用 于待潮 区域 小于 200/*...