由于不同元素具有不同的质荷比,离子探针仪能够通过测量质荷比来鉴别被测元素的种类。具体来说,离子探针仪会将分离后的离子或中性粒子按照质荷比进行排序,然后通过检测器对这些粒子进行计数和分析。根据检测到的粒子种类和数量,就可以确定样品中包含哪些...
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01实验室简介离子探针（Secondary ion mass spectrometer）实验室成立于2007年，先后引入CAMECA IMS-1280和CAMECA IMS-1280HR型离子探针装置。以“学术引领、技术先行、高质开放”为宗旨、以“更精、更细、更准、更多”为目标，致力为国内外地球科学家提供一个高水平的分析研究平台。实验室对国内外研究人员高质开放。...
04实验室主要仪器图7 纳米离子探针质谱仪照片（CAMECA NanoSIMS 50L）纳米离子探针利用铯或氧离子源发射正或负极性的一次离子，加速形成能量为1-20KeV的一次离子束轰击固体样品表面，可产生除稀有气体外的绝大多数元素的二次离子，利用电场和磁场分离具有不同极性和质荷比的二次离子，然后用法拉第杯或电子倍增器测量...
离子探针分析仪（SISM）具有独特的特性，使其在材料分析领域展现出卓越性能。首先，其离子束的穿透深度相对较浅，仅几个原子层，因此特别适合对极薄表层进行成分分析，这是一般电子束分析难以实现的。其次，SISM具备独特的分析能力，能够研究轻元素，如氢和锂，特别是对于氢元素，这是其他同类仪器无法比拟...
场离子显微镜离子探针质谱仪(FIM)是一种能够提供高分辨率离子光学成像的微区化学分析技术。该技术可以在非减速状态下进行分析,同时具有较高的空间分辨率和检测灵敏度。与传统的离子探针相比,FIM仪器具有更强的物质识别和元素测量能力,主要适用于对半导体材料、化合物薄膜、有机材料等进行分析。 四、单体离子质谱仪(...
质谱仪离子探针是一种精密的分析工具，它利用聚焦的一次离子束作为微探针，对样品表面进行精细操作。通过这种方式，它能够轰击样品，产生原子和分子的二次离子。这些离子随后在磁场中，按照它们的质荷比（m/e）进行分离，从而形成材料的质谱图谱和离子图像。这些图谱和图像提供了关于样品元素的定性和定量信息...
第五代离子探针质谱仪是目前国际上最先进的物质表面成分分析仪器之一，主要用于开展高精度的矿物微区氧、硫和碳等稳定同位素分析、定年和微量元素地球化学研究。目前该设备已顺利完成安装调试，正式投入运行，这标志着省地科院，将来可以深度参与战略性矿产资源、大洋与极地地质、乃至月球和火星地质等前沿性科学研究。
一、离子探针质谱仪简介 离子探针质谱仪是一种利用离子束与样品相互作用的表征仪器,将离子束引入样品表面,利用样品表面生成的剥离离子,通过离子透镜系统和质谱能量分析器对其进行分析。该仪器具有非常高的分辨率和灵敏度,并且能够对元素和化合物进行分析,是分析表面成分的重要仪器。 二、离子探针质谱仪的主要用途 1. 表...
一、基本原理 1. 一次离子束轰击 一次离子：一次离子通常是一些高能量的离子束，如氧离子、铯离子、氩...