XRD是一种常用的材料表征技术,用于确定材料的晶体结构、晶格常数、晶体取向、相组成等信息。当X射线照射到晶体材料上时,由于晶体内部原子排列的周期性,X射线会发生衍射。通过分析衍射图案,可以获取关于晶体结构的信息。 对于碳纸,XRD分析可能用于确定其碳的晶体结构(如石墨、金刚石等),以及可能存在的杂质或添加剂的晶...
可能样品intensity太弱了，而碳纸的intensity太强，建议把图做出来或者在jade里放大看看有没有出峰。
XPS数据验证了图2a中的XRD结果。 因此,作者可以确认Zn NSs是通过电化学还原从ZnO NSs合成的,并且CTAB已成功地修饰在Zn NSs上的碳纸上。 图2(a)碳纸、锌纳米片(Zn NSs)和经CTAB改性的Zn NSs的XRD。(b)碳纸、Zn NSs和CTAB改性Zn NSs的FT-IR光谱。(c)Zn NSs的Zn 2p XPS光谱。(d)Zn NSs-1.6的Zn 2p X...
通过XRD分析,可以了解碳纸的晶体结构和可能存在的杂质或添加剂的晶体结构,为开发新的碳纸材料提供重要的信息。 【结论】 碳纸XRD分析技术是一种重要的材料表征技术,可以确定碳纸的晶体结构和可能存在的杂质或添加剂的晶体结构,为理解碳纸的性能、优化其制备工艺或...
可能样品intensity太弱了，而碳纸的intensity太强，建议把图做出来或者在jade里放大看看有没有出峰。