为此，我国制定了《GBT 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定——直排四探针法》这一国家标准，为硅、锗单晶电阻率的测定提供了一种科学、准确且易于操作的方法。直排四探针法是一种基于电流-电压测量原理的电阻率测试方法。该方法通过在材料表面施加四个电极（即探针），形成一个封闭的电路，其中两个电极用于施加电流...
首先,该方法设备简单,操作方便,易于在实验室中实现。其次,测量准确度高,能够满足对硅、锗单晶电阻率精确测定的需求。此外,该方法对试样的几何尺寸无严格要求,适用于不同形状和尺寸的试样测试。 虽然直排四探针法在硅、锗单晶电阻率测定中表现出色,但在实际应用中仍需注意一些问题。例如,探针的间距和压力会直接影响...
《GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法》这一标准相比于之前的《GB 1552-1979》、《GB 5251-1985》以及《GB 6615-1986》,主要在以下几个方面进行了调整和更新: 适用范围的明确与扩展:新标准明确了其适用于硅、锗单晶材料电阻率的测定,特别强调了直排四探针法的应用,这相比之前的标准可能有更...
GBT 1552--- 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法.pdf 18页VIP内容提供方:可疑侵权标准 大小:428.67 KB 字数:约小于1千字 发布时间:2020-10-27发布于四川 浏览人气:37 下载次数:仅上传者可见 收藏次数:0 需要金币:*** 金币 (10金币=人民币1元)...
国家标准《硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。 主要起草单位 上海有色金属研究所 。目录 1标准状态 2基础信息 3起草单位 4起草人 5相近标准(计划)1标准状态...
免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载 免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载 免费标准网( w w w . f ...
标准名称:硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法 英文名称:Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon and germanium with a collinear four-probe array 发布日期:1995-04-18 实施日期:1995-12-01 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会 执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会 主管...
GB/T 1552-1995.硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法[S],1995.GB/T;1552-1995.硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法.1995GB/T 1552-1995.硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法[S]. 1995GB/T 1552-1995. 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法[S]. 1979...
标准号:GB/T 1552-1995 标准名称:硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法 发布日期:1995-04-18 实施日期:1995-12-01 废止日期:2010-06-01 批准发布部门:国家标准化管理委员会 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会 起草单位:上海有色金属研究所 GB/T 1552-1995(首页预览图)...
GB/T 1552-1995 标准预览 中文名称:硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 英文名称: 中国标准分类(CCS):H21 国际标准分类(ICS):77.040.30 发布日期:1995-04-18 实施日期:1995-12-01 页数:17 标准状态:作废 点击数:125 废止日期:2010-06-01 适用范围:...