图4: 采用 Kα1,2 单色器和 1D 探测模式,用发散光束几何测量了硅标样掺杂合成石墨的衍射图样。插入图显示 Si 111 峰 实验结论 随着合成石墨需求的增加,需要准确地确定石墨化度作为石墨化工艺有效性的定量衡量标准。XRD 提供了最有效的方法,它基于石墨(002)峰的 2θ 精确位置计算石墨层间距,来计算石墨化度。 ...
XRD法测定石墨化度即先测定石墨(002)晶面层间距d002,然后代入Mering–Maire公式(也称富兰克林公式)计算: G = (0.3440 – d002) / (0.3440 – 0.3354) × 100% 式中: G为石墨化度,%; 0.3440为非石墨化炭的层间距,nm; 0.3354为理想石墨晶体...
在人造石墨的结构表征中，X射线衍射法（XRD法）被广泛用于测量石墨化度。石墨化度，即碳原子形成密排六方石墨晶体结构的程度，其晶格尺寸越接近理想石墨的点阵常数，石墨化度就越高。 通过XRD法测量石墨（002）晶面层间距d002，再代入Mering–Maire公式（亦称富兰克林公式）进行计算，即可得出石墨化度的具体数值。...
石墨化度是指材料中石墨晶体的完善程度，高石墨化度意味着更好的导电性和机械性能。通过XRD分析，还能观察到石墨的形貌结构，比如层状排列和晶体缺陷，这些信息有助于优化电池设计，提高其性能和寿命。在锂离子电池中，负极材料的层间距和石墨化度是影响其电化学性能的关键因素。XRD衍射法就是用来测定这些参数的。负极...
XRD技术通过测量X射线在晶体中的衍射角度，计算出晶体的晶格参数和晶体结构。在石墨材料表征中，XRD技术具有以下优势：1.高精度：能够精确测定石墨材料的晶格参数和晶体结构，为材料性能的评估提供可靠依据。2.非破坏性：无需对样品进行破坏性处理，即可获得其内部结构信息。3.广泛应用：不仅适用于石墨单晶的表征，还可...
一、石墨化碳的xrd特征峰 1. (002)峰 石墨化碳的最强xrd特征峰为(002)峰,位于2θ=26.5°左右。这是由于石墨化碳材料中的石墨层堆积方式对(002)峰的贡献最大。(002)峰的强度与石墨化程度成正比,因此可以用于表征石墨化碳材料的石墨化程度。 2. (100)峰 (100)峰是另一个较为显著的峰,位于2θ=42.8°左...
XRD衍射图谱分析：XRD，即X射线衍射，是一种非破坏性的分析方法，通过测量样品对X射线的衍射，得到材料的晶体结构信息。在锂离子电池材料检测中，XRD被广泛应用于分析材料的晶体结构、相组成以及晶格参数等。石墨取向度（OI值）：石墨取向度是描述石墨材料中石墨片层排列有序程度的一个参数。高取向度的石墨材料通常...
石墨XRD标准PDF峰在以下情况下有用: 1.石墨材料研究:石墨XRD标准PDF峰是研究石墨晶体结构和物相组成的重要工具。通过与标准PDF峰进行比对,可以了解石墨材料的晶体结构、层数、取向、缺陷等特征,有助于深入理解石墨材料的性质和行为。 2.石墨材料质量控制:在石墨材料的生产和加工过程中,石墨XRD标准PDF峰可用于质量控制...
那么,碳晶体的晶胞参数可直接用来表征其石墨化度。 XRD法通常利用石墨的晶格常数计算石墨化度G,即富兰克林公式: 式中:0.3440为完全非石墨化炭的(002)晶面间距,nm; 0.3354为理想石墨晶体的(002)晶面间距,nm;
利用XRD衍射法测定石墨晶面结构层间距d002,随即再利用富兰克林公式G=(0.3440-d002) / (0.3440 -0.3354)×100%得出石墨化度。X射线衍射法可以直接测定石墨层间距d002,然后代入公式计算石墨化度。这种方法简单快捷。测试背景 石墨材料越接近理想石墨,晶格缺陷越少,电子迁移阻力越小,电池的动力学性能越好。因此石墨...