针对一个NiFe 合金薄膜进行XMCD—PEEM 成像,其铁磁畴结构随外加磁场的演化图显示于6(b)。可以看到,铁磁畴具有很好的衬度,空间分辨率也较高,畴分辨能达到100 nm量级甚至更好。 图6 (a)标准的光电子发射显微镜PEEM的构造示意图[10];(b)一系列铁磁畴图片,是NiFe 铁磁合金薄膜中铁磁畴随外加磁场演化的XMCD图像。
上篇:眼见为实(上):磁畴成像 1 引子 上篇所描绘的磁畴成像方法,虽然有些方法所搭载的工具很强大,比如洛伦兹成像搭载的TEM、桑巴成像搭载的SEM等,都与电子显微镜有关,但这些方法的基本机制都可以在经典电磁学框架下描述,也因此这些成像的衬度只是决定于成像位点附近的磁矩...
针对一个NiFe 合金薄膜进行XMCD—PEEM 成像,其铁磁畴结构随外加磁场的演化图显示于6(b)。可以看到,铁磁畴具有很好的衬度,空间分辨率也较高,畴分辨能达到100 nm量级甚至更好。 图6 (a)标准的光电子发射显微镜PEEM的构造示意图[10];(b)一系列铁磁畴图片,是NiFe 铁磁合金薄膜中铁磁畴随外加磁场演化的XMCD图像。