测试工程师还应注意测试过程中的电应力损伤(即电气过载)。这主要有以下三种情况: 01 电气过载(EOS): EOS威胁主要归咎于处理不当和/或测试夹具设计问题; 附近雷击和设备切换造成的浪涌,会在电力和数据线路上产生严重的瞬变能量。 02 静电放电(ES...
这种损伤的位置一般在输入保护结构或与输入相连的栅氧化层边缘和衬底之间,尺寸在0.1~ 1μm之间。 ②由温度引入 的二次电击穿 对于人体模型的静电放电,在低的静电电压下,较长时间的电过应力将产生二次电过冲,由于电压较低,故不能产生场引入栅氧化层电击穿,而是pn结的热击穿和栅下沟道的温升,从而导致栅上的栅氧...
有时LED可能在测试过程中损坏,而工程师却没有注意到这种情况。在测试时须特别注意不要让LED过载。 有关LED测试的更多详情,请阅读以下内容: 测试工程师还应注意测试过程中的电应力损伤(即电气过载)。这主要有以下三种情况: 01 电气过载(EOS): 02 静电放电(ESD): LED厂商推荐了关于预防和管理ESD/EOS威胁的指南。
测试工程师还应注意测试过程中的电应力损伤(即电气过载)。这主要有以下三种情况: 01电气过载( EOS ): EOS威胁主要归咎于处理不当和/或测试夹具设计问题; 附近雷击和设备切换造成的浪涌,会在电力和数据线路上产生严重的瞬变能量。 02静电放电( ESD ): 接触ESD敏感(ESDS)物品的带电物体(包括人); 一个带电的E...
关键词:ADSS光缆;电应力损伤;电痕化腐蚀;空间电位;湿污电阻;干带电弧;电容耦合试验 中图分类号:TN818 文献标识码:A 文章编号:1005—7641( 2001) 09—0001—12 0引言 麟光缆的英文全称是舢l Di el ectri c Sel f— Supporti ng Opti cal Fi ber Cabl e,中文译为全介质自 承式光缆。这名称较之“ ...
DSS光缆损伤机理及对策国电通信中,fl,北京100761)摘要:全面分析电应力作用下光缆损伤的机理。推导和阐述表征电场特征的各电气参量的计算方法和相互关系以及这些参量对光缆损伤的影响,据此提出防止措施和对策。强调对光缆挂点进行ADSS光缆试验方法进行评水平应按空问电位和湿污电阻两个参量划分等级的建议借鉴国外ABSS光缆...
盖下坝水电站施工期温度应力及损伤仿真分析
比如:324运放,额定电压的范围为3~30v,极限值为32v,我认为使用时应参考降额规则,对供电电源电压的降额系数取0.7~0.8,即实际的供电电压上限宜在±12v左右,不宜取±15v上限。但有不少工程师仍然认为即便是15v供电也是在器件规格书内,根本就不需要降额,其理由是降额使用的条件是器件存在热损伤的可能,但小信号不...
本申请提供的折叠屏手机，通过调整手机中框结构，使手机中框结构与柔性电路板结构相匹配，解决应力集中容易使手机柔性电路板损伤问题。天眼查资料显示，北京讯通安添通讯科技有限公司，成立于2009年，位于北京市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本600万人民币，实缴资本600万人民币。通过天眼查...
螺吡喃是一种特殊的分子,它对外力有反应,能够在受到物理刺激时改变颜色。这种特性是由于其化学结构的变化所导致的。当螺吡喃被注入到混凝土或硅胶等材料中时,它能够对力、变形和损伤等机械刺激产生颜色变化,从而可以被用作一种指示材料内部应力或损...