(1)XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X射线光电子能谱),是一种收集和利用X-射线光子辐照样品表面时所激发出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息,从峰强可获得样品表面元素含量或浓度(不常用)
X光电子能谱分析的基本原理:一定能量的X光照射到样品表面,和待测物质发生作用,可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示: hn=Ek+Eb+Er (1) 其中:hn:X光子的能量;Ek:光电子的能量;Eb:电子的结合能;Er:原子的反冲能量。其中...
从不粘炊具涂层到薄膜电子和生物活性表面,X 射线光电子能谱是进行表面表征的标准工具之一。 X 射线光电子能谱 (XPS) 也称为用于化学分析的电子能谱 (ESCA),是一种用于分析材料表面化学的技术。XPS 可以测试得到材料表面元素组成及化学态信息。通过使用一束 X 射线照射固体表面并测量从材料表面 1-10 nm 发射的...
c.深度剖析:在X射线光电子能谱(XPS)分析中,为了获取位于样品表面下大于10纳米深度的元素化学信息,可以在XPS设备的分析室内使用惰性气体离子轰击的方法进行表面刻蚀。具体操作是利用氩(Ar)离子枪对样品表面进行溅射剥离,通过控制适当的溅射强度和时间来将样品表面刻蚀到预定的深度,随后再进行光谱分析。 为了确保准确的溅...
材料的表面分析技术主要有3种:俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS) 、原子力显微镜(AFM),今天主要对比学习前两种。 什么是电子能谱分析法? 电子能谱分析法是采用单色光源(如X射线、紫外光)或电子束去照射样品,使样品中电子受...
电子能谱的基本hv原E理bEkEr 电子结合能 原子的反冲能量 电子动能 Er 1M 2 ma*2 忽略Er(<0.1eV）得 hvEkEb 对孤立原子或分子，Eb就是把电子从所在轨道 移到真空需的能量，是以真空能级为能量零点的。hvEkEb 对固体样品，必须考虑晶体势场和表面...
光电子能谱技术自二十世纪六十年代迅速发展起来,并成为研究固体材料表面态的最重要和有效的分析技术之一,主要包括X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy,简称XPS)和紫外光电子能谱(Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy,简称UPS)两个分支体系。Tunner 等人所发展的紫外光电子能谱,它的激发源在属于真空紫外能...
一、X光电子能谱分析的基本原理 X光电子能谱分析的基本原理:一定能量的X光照射到样品表面,和待测物质发生作用,可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示: hn=Ek+Eb+Er (1) 其中:hn:X光子的能量;Ek:光电子的能量;Eb:电子的结合能;Er:原子的反冲能量。其中Er很小,可以忽略。
俄歇电子能谱（AES，Auger Electron Spectroscopy）和 X 射线光电子能谱（XPS，X-ray Photoelectron Spectroscopy）是两种广泛应用于表面分析的物理手段，它们都可以用于获取材料表面组成和结构信息，但各自原理和应用领域有所不同。一、俄歇电子能谱（AES）俄歇电子能谱是一种表面分析技术，利用高能电子束作为激发源。当...
由于使用了更低能量的光子,UPS 不能获取大多数核心能级的光电发射,因此谱采集仅限于价带区域。使用 UPS 能进行两种类型的实验:价带采集和电子脱出功测量。