本文件描述了电子元器件在实际贮存条件下随时间推移的退化机理和退化方式,以及评估一般退化机理的试验方法。通常本文件与IEC6 2电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理, Long-term storage of electronic components and semiconductor devices P
退化机理在半导体器件选型中的应用半导体器件贮存中的分层现象解析电子元器件长期贮存的维护与管理建议退化机理与半导体器件失效模式分析半导体器件贮存中的爆米花效应探讨新标准下电子元器件贮存的挑战与机遇退化机理在半导体行业创新中的作用半导体器件长期贮存的环保与节能考虑目录电子元器件贮存中的引线镀层问题研究退化机理...
GB/T 42706.2-2023电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理.pdf,ICS31.020 CCSL40 中华人 民共和 国国家标准 / — / : GBT42706.2 2023IEC62435-22017 电子元器件 半导体器件长期贮存 : 第 部分 退化机理 2 —— Electroniccom onents Lon-termstoraeofelectroni
中文原文名称:电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理 英文翻译名称:Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 2: Deterioration mechanisms 发布日期 :2023-05-23 实施日期 :2023-09-01 页数:20页 中国标准分类 : [L40] 半导体分立器件 国际标准分类 : [31.020] ...
《GB/T 42706.2-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理》本文件描述了电子元器件在实际贮存条件下随时间推移的退化机理和退化方式,以及评估一般退化机理的试验方法。通常本文件与IEC 62435-1一起使用,用于预计贮存时间超过12个月的长期贮存器件。特定类
电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理doi:GB/T 42706.2-2023全国集成电路标准化技术委员会刘玮石东升晋李华彭勇闫萌张鑫彭浩崔波魏兵赵鹏麦日容徐昕米村艳何黎陈金星吴卫斌
GB/T 42706.2-2023 英文版 GB/T 42706.2-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理 英文版 GB/T 42706.2-2023, GB 42706.2-2023, GBT 42706.2-2023, GB/T42706.2-2023, GB/T 42706.2, GB/T42706.2, GB42706.2-2023, GB 42706.2, GB42706.2, GBT42706.2-2023,
本文件是GB/T42706《电子元器件半导体器件长期贮存》的第1部分。GB/T42706已经发布 了以下部分: ——第1部分:总则; ——第2部分:退化机理; ——第5部分:芯片和晶圆。 本文件等同采用IEC62435-1:2017《电子元器件半导体器件长期贮存第1部分:总则》。本文件做了下列最小限度的编辑性改动: a)表D.1中“VP”改...
电子元器件 半导体器件长期贮存 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 I IV 1 1 1 1 2 24.1 通则 24.2 贮存决策依据 24.3 原因和方法 4 44.5 风险管控与保险 54.6 延缓淘汰 5 5 5 6 65
GB/T 42706.2-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理,该文件为pdf格式,请用户放心下载。 尊敬的用户你们好,你们的支持是我们前进的动力,网站收集的文件并免费分享都是不容易,如果你觉得本站不错的话,可以收藏并分享给你周围的朋友。 如果你觉得网站不错的话,找不到本网站的话,可以百度、360搜搜...