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中国标准按内容划分有基础标准(一般包括名词术语、符号、代号、机械制图、公差与配合等)、产品标准、辅助产品标准(工具、模具、量具、夹具等)、原材料标准、方法标准(包括工艺要求、过程、要素、工艺说明等);按成熟程度划分有法定标准、推荐标准、试行标准、标准草案。一份国标通常有封面、前言、正文三部分组成。标准号...
5—85 电子元器件结构陶瓷材料 性能测试方法 体积电阻率测试方法 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components Test method for volume resistivity 1985-11-27 发布 1986-12-01 实施 国家^杨^ 批准 中华人民共和国国家标准 电子元器件结构陶瓷材料 UDC 621.315.612 :621.382 ...
《GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法》是中国国家标准之一,该标准规定了用于测量电子元器件中结构陶瓷材料体积电阻率的方法。体积电阻率是衡量材料导电能力的一个重要参数,在电子工业中对于选择合适的绝缘材料具有重要意义。
GB/T5594.5-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法Test methods forproperties of structure ceramic used in electronic components--Testmethod forvolume resistivity现行1986-12-01实施 本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500°C范围体积电阻率的测定。
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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 来自 掌桥科研 喜欢 0 阅读量: 3 标准号: GB/T 5594.5-1985 发布日期: 1985-11-27 发布单位: 工业和信息化部(电子) CCS: L32 ICS: 81.060 玻璃和陶瓷工业 - 陶瓷 收藏 引用 批量引用 报错 分享 ...
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 Test methods for performance of structural ceramic materials for electronic components Test methods for volume resistivity GB 5594.5-1985 发布历史 GB 5594.5-1985由国家质检总局 CN-GB 发布于 1985-11-27,并于 1986-12-01 实施。
本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法, Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for v
中文标准名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法英文标准名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for volume resistivity标准类型:L32发布日期:1985/11/27 12:00:00实施日期:1986/12/1 12:00:00中国标准分类号:L32国际标准分类号:...