电子元器件失效机理、模式及影响分析(FMMEA)通用方法和程序本文件是针对元器件级的失效模式及影响分析,是对系统及整机级的FMEA标准的有效补充,可保证元器件制造和应用方了解和掌握影响元器件可靠性的主要失效机理、模式及原因,并预先采取有效的预防措施;支撑元器件的可靠性设计、生产工艺控制以及整机用户的可靠性应用。点...
《T/CIE 115-2021 电子元器件失效机理、模式及影响分析(FMMEA)通用方法和程序》本文件确立了对电子元器件进行失效机理、模式及其影响分析(FMMEA)的通用方法和程序。本文件适用于电子元器件的风险等级分析。 状态:现行
本文件是针对元器件级的失效模式及影响分析,是对系统及整机级的FMEA标准的有效补充,可保证元器件制造和应用方了解和掌握影响元器件可靠性的主要失效机理、模式及原因,并预先采取有效的预防措施;支撑元器件的可靠性设计、生产工艺控制以及整机用户的可靠性应用。电子元器
T/CIE 115-2021的标准全文信息,本文件是针对元器件级的失效模式及影响分析,是对系统及整机级的FMEA标准的有效补充,可保证元器件制造和应用方了解和掌握影响元器件可靠性的主要失效机理、模式及原因,并预先采取有效的预防措施;支撑元器件的可靠性设计、生产工艺控制以及