设计中,之所以会去考察信号过孔的残桩效应(Via Stub),是因为它的存在导致了不需要的频率谐振,当这些谐振出现在所关注的信号通道的插入损耗中时,就会引发较为严重的信号完整性(SI)问题。 那么Via Stub到底是如何引发SI问题的呢?可以借助下图对这个问题进行解释: 左侧图,显示一个有两部分组成的通孔,直通部分(Thru...
2. 趋肤效应: 3. 过孔结构:随着频率的增加到较高频率,过孔就不再能被简单的看成是一个电阻的电气连接,而这时候就必须要考虑过孔本身的形状和电性能对信号完整性的实际影响。 4. 残桩(Stub):实际应用中并不是所有层都需要互连,如果常规通孔不加以处理,信号会在多余的铜柱上进行传输,这些铜柱通常被称为stub。
金融界 2025 年 4 月 21 日消息,国家知识产权局信息显示,广州禾旺电子有限公司申请一项名为“一种低残桩效应插槽连接器”的专利,公开号 CN119852789A,申请日期为 2025 年 1 月。 专利摘要显示,本发明公开了一种低残桩效应插槽连接器,包括浮升条和插槽本体,所述插槽本体设置有条形槽,所述浮升条可上下浮升...