椭偏仪测量薄膜厚度和折射率 实验目的: 1.了解椭偏仪测量薄膜参数的原理. 2.初步掌握反射型椭偏仪的使用方法. 实验原理: 在一光学材料上镀各向同性的单层介质膜后,光线的反射和折射在一般情况下会同时存在的.通常,设介质层为n1、n2、n3,φ1为入射角,那么在1、2介质交界面和2、3介质交界面会产生反射光和折射...
椭偏仪确实可以测量薄膜的厚度和折射率哦。它是利用椭圆偏振光在样品表面反射后偏振状态的变化,来推算出薄膜的厚度和折射率的。这种方法具有精度高、灵敏度强、对样品无损伤等优点,在光学、材料等领域得到了广泛应用。
椭偏仪测折射率和薄膜厚度实验装置包括:激光器(氦氖或半导体)、分光计、光栏、望远镜、黑色反光镜、薄膜样品、起偏器、检偏器、1/4波片。 实验内容 1.熟悉并掌握椭偏仪的调整 椭偏仪实物图椭偏仪结构示意图 椭偏仪的实物如上图所示。了解图中各部件的作用,并学会正确调整。 2.调整光路,并使入射到样品的光为等...
椭偏仪是一种用于测量透明物体表面薄膜的厚度和折射率的仪器。当光线从真空进入具有一定折射率的介质中时,会发生折射和反射。当光线垂直入射到薄膜表面时,经过多次反射和折射后会形成干涉现象。通过观察测量光的振幅和相位差的变化,可以推导出薄膜的厚度和折射率。 实验步骤: 1.将实验台安装好,并确保椭偏仪的光源正常...
椭偏仪测量薄膜厚度和折射率 近代科学技术中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,能够更加迅速和精确地测量薄膜的光学参数例如厚度和折射率已变得非常迫切。 在实际工作中可以利用各种传统的方法来测定薄膜的光学参数,如布儒斯特角法测介质膜的折射率,干涉法测膜。另外,还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等等。
椭偏仪测量薄膜厚度和折射率 【引言】 椭圆偏振测量(椭偏术)是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象及其特性 的一种光学方法,其原理是利用偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时出现 的偏振变换。椭圆偏振测量的应用范围很广,如半导体、光学掩膜、圆晶、 金属、介电薄膜、玻璃(或镀膜)、激光反射镜、大面积光学膜、有机...
椭偏仪是一种光学仪器,主要用于测量薄膜的厚度和折射率。它利用椭偏现象,测量样品相对于入射光的相位差和椭圆形状的变化,从而计算出样品的厚度和折射率。 二、角度对测量结果的影响 在椭偏仪测量薄膜厚度和折射率时,角度的选择对测量结果有着重要的影响。通常情况下,应...
椭偏仪测量薄膜厚度和折射率讲义
椭偏仪测量薄膜厚度和折射率【引言】椭圆偏振测量(椭偏术)是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象及其特性的一种光学方法,其原理是利用偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时出现的偏振变换。椭圆偏振测量的应用范围很广,如半导体、光学掩膜、圆晶、金属、介电薄膜、玻璃(或镀膜)、激光反射镜、大面积光学膜、有机薄膜等...
椭偏仪测量折射率和薄膜厚度：在常规表述中，介质层的入射角及其折射范围厚度被设定。当椭圆偏振光在样品表面反射时，其偏振状态会发生改变，借此特性，我们可以测定固体介质薄膜的厚度和折射率。该技术的测量范围宽广，厚度可以从10^-10至10^-6米，精度可达到单个原子层级别的百分之几，且具有非破坏性...