这个缺陷是由于透镜场不均匀地作用在离轴光线上而引起的。对于电磁透镜，电子离轴越远，被偏折就越厉害，结果导致点状物体折射后就形成了一个一定大小的盘，这限制了放大物体细节的能力，因为细节在成像过程中被削减了。就像前面介绍的，这种球差可以校正，但是它仍然限制了大多数TEM的分辨率，所以要对其进行仔细探讨。...
因此，假如能把照明光场经过样品后的相位改变量的分布转化成光强分布，就能够实现对这种样品（通常称为“相位”样品）的成像，这种技术称为“相衬法”，用于光学显微术中则形成了各种“相衬显微术”。1.泽尼克相衬显微术 20世纪30年代，荷兰物理学家泽尼克（Zernike）首次提出了相衬技术（1953年获得诺贝尔奖），其原理...
因此，电子显微学家通常忽略俄歇信号，把它归为表面化学范畴，例如ESCA和SIMS技术。但随着TEM中真空的提高，超真空的STEM越来越普遍，人们对俄歇信号的兴趣与日剧增，不幸的是，在STEM中安装俄歇系统并没有那么简单，需要专业设备，普通的AEM还不行，所以电竞中俄歇分析还很少。
TEM中的电磁透镜与光学显微镜(VLM)中的玻璃透镜类似,两者在很大程度上具有可比性。例如标准TEM中所有透镜的作用与凸(会聚)透镜对单色光的作用类似。透镜有两个基本功能: 1.把从物体中一点发出的所有光线在像上会聚成一点。 2.把平行光会聚到透镜焦平面上一点。 透镜不可能收集从物体发出的所有光线,而且我们还经常...
电子-空穴和阴极发光这两种信号是密切相关的。有一种半导体探测电子的方法,这种半导体在被高能电子轰击是会产生电子-空穴对。因此,如果样品刚好是带隙半导体,就会在半导体内产生电子-空穴对。 图A给出了阴极发光过程。光子频率等于能隙(EG)与普朗克常量(h)的比值,因此,如果带隙因为某种原因而发生变化,就会有光谱产生...
透镜方程 从图中,可以定义3个重要的距离,标示在上图中:从物平面到透镜的距离(物距,d0),从透镜到像平面的距离(像距,di),从透镜到后焦面的距离(焦距,f)。如果透镜在透镜平面两边的强度对称(即前后焦面到透镜…
原位透射电子显微学(in-situTEM)是指直接在原子层次观察样品在力、热、电、磁作用下以及化学反应过程中的微结构演化及进行表征的过程,近年来成为材料研究的热门领域。 与原位对应的非原位(ex-situ)是指实验过程是在电镜外完成,实验完成后再将样品放进电镜中观察,通过对比实验前和实验后样品的图像来推断实验过程中样...
浅谈透射电子显微学—电磁透镜 电磁透镜 电子的聚焦是1927年由Busch首先完成的，他使用的是一块电磁铁，与Ruska在第一台TEM中使用的电磁铁是同一类。Busch表明用静电场聚焦电子也是可能的，在实际应用中，磁透镜比静电透镜在很多方面具有更大的优越性，尤其是不容易受到高压的影响。所以要讨论的TEM全部使用磁透镜，...