《数字系统测试和可测性设计》是清华大学出版社出版的图书，作者是Miron Abramovici，MelvinA.Breuer，ArthurD.Friedman 内容简介 Digital Systems Testing and Testable Design一书，是全美大学生和研究生优秀教材，比较系统地介绍了结构测试的理论和方法、可测性设计理论和度量方法、测试数据的处理及简化的理论和方法以及...
《数字系统测试和可测试性设计》这本书详细介绍了数字系统测试和可测试性设计的理论和实践。在书中,作者塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedin Navabi)全面介绍了数字系统测试和可测试性设计的基本概念、测试流程、测试模型、测试工具等方面的内容,并结合实际案例进行详细讲解。这些内容对于DFT工程师来说,是非常有价值的学习资...
边界扫描技术使得芯片的引脚状态能够被方便地控制和观测,便于进行板级测试。 **三、总结** 数字系统测试和可测性设计相辅相成。合理的可测性设计能极大地提高测试效率、降低测试成本,是保障数字系统质量不可或缺的部分。 数字系统芯片可测性设计 《数字系统芯片可测性设计》 数字系统芯片的复杂性不断增加,可测性...
这本书论述了数字系统测试和可测性设计,它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用Verilog和VerilogPLI编写测试应用,这把本书与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。 目录 ··· 目录 译者...
**一、数字系统测试的重要性** 数字系统日益复杂,测试是确保其功能正确性、可靠性的关键。通过测试可发现制造缺陷、逻辑错误等。传统测试方法在面对大规模复杂数字系统时面临挑战,如测试时间过长、难以覆盖所有故障情况等。 **二、可测性设计(dft)**
Digital Systems Testing and Testable Design一书,是全美大学生和研究生优秀教材,比较系统地介绍了结构测试的理论和方法、可测性设计理论和度量方法、测试数据的处理及简化的理论和方法以及智能芯片(处理器、数字信号处理器和自动机等)测试理论和方法等。该书共有15章,分为3部分。前8章为第一部分,主要介绍数字系统...
《数字系统测试和可测试性设计》论述了数字系统测试和可测性设计,它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。《数字系统测试和可测试性设计》还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。《数字系统测试和可测试性设计》的最大特点是广泛地使用Verilog和VerilogPLI编写测试应用,这...
《数字系统测试和可测试性设计》,作者:数字系统测试和可测试性设计 塞纳拉伯丁·纳瓦比 著,出版社:机械工业出版社,ISBN:9787111501541。
当当艺米图书专营店在线销售正版《数字系统测试和可测试性设计 [美] 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedin Navabi) 机械工业出版社【正版书】》。最新《数字系统测试和可测试性设计 [美] 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedin Navabi) 机械工业出版社【正版书】》简介、书评、试读、