《VLSI芯片级完整耦合互连寄生参数提取算法研究》是依托清华大学，由王泽毅担任项目负责人的重大研究计划。项目摘要 在超深亚微米大规模集成芯片系统（SOC）中，高集成密度与高工作频率引发的互连线寄生效应已成为影响电路延时、功耗及可靠性等重要性能的关键因素，为了布图后验证的需要，互连寄生电磁参数的精确提取已成为...