扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy,STEM),既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。像SEM一样,STEM用电子束在样品的表面扫描,但又像TEM,通过电子穿透样品成像。STEM能够获得TEM所不能获得的一些关于样品的特殊信息。STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂...
扫描透射电子显微镜(Scanning Transmission Electron Microscopy, STEM)由透射电子显微镜(TEM)发展而来,指透射电子显微镜中有扫描附件者,尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而...
扫描电子显微镜(如图1所示)之扫描透射电子显微镜(Scanning transmission electron microscopy, STEM),它是结合扫描电镜和透射电镜的功能特点而出现的,放大倍率高于扫描电镜,加速电压低于透射电镜,因此对于有机高分子、生物等软材料的透射分析十分友好。环形扫描透射电子显微镜(aSTEM)探测器是一种气动缩回的多模式探测器,样品...
扫描透射电子显微镜(STEM)发明于20世纪30年代,作为光显微镜的替代品,最初是为了克服可见光因波长短而产生的衍射极限。经过几代科学家和工程师的努力,如今STEM已发展成为一种功能强大的综合设备,可用于表征材料的高空间分辨率,成为材料研究中不可或缺的设备,远不止是一个放大镜那么简单。
在扫描透射电子显微镜(STEM)领域,由于电子光学、探测器和光谱仪的进步,已经出现了技术发展的热潮。STEM是一种通过在样品上扫描电子束并通过多种探测器收集信号的技术。这种方法允许同时表征包括形态、键合、化学以及光学和电子性质在内的一系列属性,每种属性通常都能以远低于1埃的空间精度获得。然而,存在着一个权衡:电...
在扫描电镜的 SED 图中可以直观显示碳纳米管的粗细,以及碳纳米管之间的交织状态。但是在 STEM 图中,可以看到隐藏在 3D 结构中的小颗粒,这些颗粒在 SEM 图中是无法看到的。STEM 模式有哪些成像模式?STEM 成像包括明场像(bright field,简称 BF),暗场像(dark field,简称 DF)以及高角度环形暗场像(high-...
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,...
扫描透射电子显微镜(Scanning Transmission Electron Microscopy, STEM)由透射电子显微镜(TEM)发展而来,指透射电子显微镜中有扫描附件者,尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式,其空间分辨率可达亚埃米级,可在纳米和原子...
像SEM一样,STEM用电子柬在样品的表面扫描,但又像TEM,通过电子穿透样品 成像。STEM能够获得了TEM所不能获得的一些关于样品的特殊信息。STEM技术 要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。相关知识点: 试题来源: 解析 饿酸 戊二醛 高频微波 ...