🔍 扫描电镜(SEM)与能谱仪(EDS)是材料科学领域不可或缺的检测工具。它们能够揭示材料的微观结构和化学成分,为材料研究和开发提供关键信息。🧪 样品准备是关键:SEM试片制备需遵循一系列原则,包括显露分析位置、表面导电性良好、无磁性或弱磁性、耐热且无熔融蒸发现象等。对于非导体样品,可能需要进行表面处理,如镀金...
电流脉冲经过主放大器转换成电压脉冲进入多道脉冲高度分析器,脉冲高度分析器按高度把脉冲分类进行计数,这样就可以描出一张X射线按能量大小分布的图谱。 图2能级跃迁过程示意图 EDS能谱仪的分析方法 点分析●Point&ID 点分析(Point&ID)(如图3)-取得电镜二次电子/背散射电子图像,在图像上根据需要选择对点、区域等方...
解析 答:(1)定点分析:用于测定样品上某个指定点,如成分未知的第二相,夹杂物或基体的化学成分。(2)线分析:用于测定某种元素沿给定直线的分布情况。(3)面分析:把X射线谱仪固定在某一波长的地方,利用仪器中的扫描装置使电子束在样品表面上扫描,同时显像管的电子束受同一扫描电路的调制作同步扫描。
能谱仪是扫描电镜(SEM)的一个必要附件,主要用于分析样品的元素组成。在SEM中,电子束与样品表面的原子相互作用,导致样品表面放射出特定能量的X射线。能谱仪根据这些X射线的特性,能够快速、准确地测定样品的化学组成和元素含量。 二、能谱仪的优势特点 1. 高分辨率 能谱仪具有...
扫描电镜(SEM)是利用高速电子束来扫描样品表面,并通过反射、透射或散射等过程,产生高分辨率的图像。SEM可以观察到微小的表面形貌和结构,还能够对样品进行成分分析。其中,显微成分分析利用的是能谱仪(EDS)。 能谱仪是一种通过测量入射电子与样品相互作用产生的...
通过CP法可以实现粉末材料截面制备，可针对原始材料、循环前后极片中颗粒进行分析。结合SEM表征，能够分析材料内部的形貌如是否含有裂纹、气孔、孔隙等。将这些技术结合使用，可以对负极材料进行孔洞分析。首先，使用SEM扫描电镜可以观察负极材料表面的形貌和结构特征。然后，使用EDS能谱仪可以确定负极材料中存在的元素种类和...
本文将围绕仪器的物理本质、工作原 理、主要结构和实际应用等几个方面对扫描电镜与能谱仪分析技术做一些简介和探讨。 1 基础知识 1.1 光的衍射和分辨率 人眼分辨率通常指在正常照明条件下, 肉眼可以分辨出的两个最近物点的距离。 一般认 为在 250mm 的距离上,人眼的极限分辨率为 0.2mm。为提高分辨率,通常借助...
扫描电镜能谱可以分析5号元素（B)及其以后的所有元素周期表中的元素，如：Na、Mg、S、P、Ca、K、Fe、Cu、Mn和Zn。扫描电镜能谱的主要用途：1、固体样品表面微区形貌观察；2、材料断口形貌及其内部结构分析；3、微粒或纤维形状观察及其尺寸分析；4、固体样品表面微区成分的定性和半定量分析。
扫描电镜附带的能谱仪能谱分析中存在的谱峰鉴别问题主要分为两类:一类是假峰的识别,假峰的识别比较容易,一般情况下,仪器可自动识别;另一类是重叠峰的鉴别,可以通过提高加速电压利用多条谱线进行鉴别,或利用谱图重构功能、增加采集时间的方法进行鉴别,或通过计算实际和理论的峰高比进行鉴别,或通过定量优化的方法进行确...