扫描电镜（SEM）是利用电子束扫描样品表面，产生二次电子等信号，通过检测这些信号来获取样品表面形貌、成分等信息。SEM的优点是分辨率高，可观察到纳米级别的细节，景深大，能清晰呈现三维形貌，可同时进行成分分析。1. SEM技术简介 从本质上讲，SEM "观察"样品表面的方式可以比作一个人独自在暗室中使用手电筒（窄...
一、扫描电镜简介 基本定义 扫描电镜（Scanning Electron Microscope, SEM）是一种利用高能电子束扫描样品表面，并通过检测电子与样品相互作用产生的信号，获得样品表面微观结构的成像工具。其主要特点在于超高分辨率，通常在亚微米至纳米级范围内，可以清晰呈现细小结构，如细胞、纳米颗粒、金属晶粒等。工作原理概述 扫描电镜...
近年来，扫描电镜(SEM)领域的三维成像技术发展备受瞩目。实验室级别的宽离子束-扫描电镜(BIB-SEM)联用系统的问世，标志着这一领域的突破。该系统最显著的特点是能够在无需人工干预且样品不暴露于空气的条件下，实现自动化的连续成像和铣削过程。宽离子束(BIB)铣削技术较传统方法具有显著优势。首先，与聚焦离子束(FIB...
扫描电镜（SEM）技术 在电子显微镜领域，扫描电镜（SEM）以其卓越的分辨率和成像质量脱颖而出。其独特之处在于，二次电子成像技术使得扫描电镜能够在极细微的尺度上观察到样品的细节，为科研工作者提供了强大的观察工具。同时，扫描电镜的广泛应用也推动了电子显微镜技术的持续进步。扫描电镜的组成与工作原理 扫描电镜是...
本文介绍了多束扫描电镜技术,从该技术的原理、应用领域、限制、以及操作方法和实例等方面进行详细阐述。 “电子-电子相互作用和探测器带宽限制了单束扫描电镜的最大成像速度。通过在单镜筒中使用多电子束,并行探测二次电子,可以将成像速度提高了近两个数量级。” ...
扫描电镜“弱视”,工业制造难以明察秋毫 亟待攻克的核心技术 实习记者 陆成宽 对材料微观结构的观测离不开“微观相机”——扫描电子显微镜,一种高端的电子光学仪器,它被广泛地应用于材料、生物、医学、冶金、化学和半导体等各个研究领域和工业部门。 “比如,在材料科学领域,它是非常基础的科研仪器,毫不夸张地说,材料...
20世纪90年代兴起的聚焦离子束切割-扫描电镜成像技术（FIB-SEM）主要应用于半导体行业，21世纪以来才被应用于生命科学来观察细胞或组织内部的结构，是一种高效、快速、自动化的大体积三维成像的方法。FIB-SEM原理是在原位利用聚焦离子束轰击样品感兴趣微小区域表面，将其暴露后，SEM自动获取背散射电子像，这个过程不断...
扫描电镜（SEM）是一种常用的表面分析技术，其数据处理和分析方法包括以下几种：图像平滑滤波：这是一种用于消除图像噪声的常用方法，通过将图像中的高频部分与低频部分进行加权平均，以获得更加平滑的图像。图像锐化：这种方法用于突出图像的边缘和细节，通过增强图像的高频部分来提高图像的清晰度。对比度调整：通过改变...