微区成分分析（microanalysis）是指样品表面线度约1微米的面积内进行成分分析的技术。简称为微（束）分析或微探针。分析结果反映由微小面积和取样深度决定的有效探测体积内的平均成分和含量。分析时若对样品表面扫描即可探测成分的面分布及相应的表面形貌。此类成分分析大多始于20世纪60年代，随着以超大规模集成电路为代表...
二次离子质谱可以分析包括氢在内的全部元素,并能给出同位素的信息、分析化合物组分和分子构成,灵敏度好、质量分辨率高、可测量的分子量范围大,还可以进行微区成分成像和深度剖面分析。 4.2测试对象 无磁性固体样品均可,可测试粉末或者薄膜材料,不受导电性限制。目前主要用于有机样品的表面分析,如生物药品的有机物分析...
微区分析技术正朝着更高的精度、更快的分析速度以及更广泛的适用范围不断发展。随着纳米技术和材料科学的持续进步，对微区分析的精确度要求也在不断提高。未来，技术将更加侧重于提升空间分辨率和检测灵敏度，以适应对更小尺度和更低浓度物质的分析需求。同时，自动化和智能化技术的引入将简化操作流程，降低分析成本，...
这一领域内，微区成分分析技术显得尤为重要。目前，这类技术繁多，共同特点在于利用能汇聚成微米的射线与样品进行相互作用，并通过探测激发出的射线能量（或质量）和强度来进行成分分析。在此，我们将深入探讨四种主流的微区成分分析技术：能谱仪（EDS）、X射线光电子能谱（XPS）、X射线荧光光谱（XRF）以及时间飞行二...
微区化学成分分析，用电子微探针和激光微探针技术等，不破坏试样而进行表血和一定深度的分析方法。简介 用电子微探针和激光微探针技术等，不破坏试样而进行表血和一定深度的分析方法。它需要特殊的仪器。如俄歇电子光谱，x射线电光谱，二次离子质i透射电子显微镜和扫描电子显微镜等都是微区和表面分析的主要仪器。AE5...
电子探针X射线微区分析(EPMA)Electron Probe X-ray Microanalysis是用聚焦极细的电子束轰击固体的表面，并根据微区内所发射出X射线的波长（ 或能量）和强度进行定性和定量分析的方法。工作原理 电子探针（Electron Probe Microanalysis-EPMA）的主要功能是进行微区成分分析。它是在电子光学和X射线光谱学原理的基础上发展...
微区分析技术,作为一类聚焦于样品微小区域特性剖析的高科技手段,涵盖了扫描电子显微镜(SEM)、电子探针显微分析(EPMA)、激光拉曼光谱(Raman)等诸多领域,使得科研人员能够在纳米甚至更精细的层面上探索材料的奥秘。而标样,这一已知成分与性质的样品,正是这一探索过程中的重要参照,对于保证分析数据的准确性和可靠性至关...
微区分析是一种先进的科学技术，它通过运用诸如微束或探针等手段，实现对光学显微镜下选定微小区域物质的直接（原位）化学成分研究。这种方法兼具形貌观察和结构测定的功能，具有很高的空间分辨率，通常在微米级别，能检测到的最小浓度范围在(1～500)×10^-6。早期应用的技术涵盖了激光光谱、电子探针和各类...
X射线光电子能谱在表面微区分析优势 X射线光电子能谱,后续简称XPS,在鉴定样品表面化学信息,成分组成分析较为常用。 如果把红外光谱提供的信息称之为“分子指纹”,那么电子能谱提供的信息可称作“原子指纹”。它提供有关化学键方面的信息,即直接测量价层电子及内层电子轨道能级。而相邻元素的同种能级的谱线相隔较远...