XRD系列岛津X射线衍射仪进行定性/定量等基本分析,还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件,还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。 利用新开发的大型R-θ样品台,可以进...