射线光谱法【共43张PPT】射线光谱法 优选射线光谱法 在轰击金属靶的过程中，有的电子在一次碰撞中耗尽其 全部能量，有的则在多次碰撞中才丧失全部能量。因为电子数目很大、碰撞是随机的，所以产生了连续的具有不同波长 的X射线，这一段波长的X光谱即为连续X射线谱。在对钼靶进行轰击后产生了两条强的发 射线（...
伽马射线能谱法是一种用于分析和测量伽马射线能量的方法。这种方法利用伽马射线与物质相互作用时产生的能量损失进行测量和分析。 在伽马射线能谱法中,首先需要将要测量的样品暴露在伽马射线源中,然后将样品的辐射信号转换为电信号。这些电信号经过放大和处理后将被送入一个能谱仪器中,用于测量不同能量范围内的伽马射线...
用波长色散进行分光的方法称为WDX(WavelengthDispersiveX-ray Spectroscopy)。EDX安装在 SEM 和 TEM/STEM 上。WDx不常用于LSI 失效分析.因为除非电子束量很大,否则无法检测到特征X射线。 通过设置X射线能谱的某一能量范围窗口,再使用电子束扫描样品,可以获得元素分布图。 用于元素分布图的EDX的空间分辨率,在连接到SEM...
1954年,凯·西格巴恩(Kai Siegbahn)最初将X射线光电子能谱法(XPS)命名为化学分析电子能谱法(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA),这是一种表面分析技术,用于表征样品表面的元素和氧化状态信息。目前,XPS的常用射线源为单色铝X射线源或非单色镁和(或)铝X射线源,光电子则用半球分析器解析。由于XPS ...
X射线光电子能谱法对于内壳层电子结合能化学位移的精确测量，能提供化学键和电荷分布方面的信息。材料的...
X射线光谱法是一种基于X射线与物质相互作用原理，对物质进行定性和定量分析的方法。一、X射线光谱法的基本原理 X射线光谱法是一种基于X射线与物质相互作用原理，对物质进行定性和定量分析的方法。X射线是一种高能电磁波，具有较高的穿透能力和很高的能量。当X射线与物质相互作用时，会发生能量交换，导致X射线的能...
为区别于电子击靶时产生的特征辐射, 由 X 射线激发的特征辐射称为二次特征辐射, 也称为 X 荧光。 根据测得的 X 射线荧光的波长, 可以确定某元素的存在, 根据谱线的强度可以测定其含量。这就是 X 射线荧光分析法 的基础。 第二节 X 射线荧光光谱仪 X 射线荧光在 X 射线荧光光谱仪上进行测量。根据分光 ...
X荧光光谱法基础理论 1) 莫塞莱定律 莫塞莱定律(Moseley’s Law)是反映各元素X射线特征光谱规律的实验定律,1913年莫塞莱研究从铝到金的38中元素的X射线特征谱K和L线,得出谱线频率的平方根与元素在周期表中排列的序号成线性关系。考虑到X射线特征光谱是由内层电子的跃迁产生,表明X射线特征光谱与原子序数是一一...
X射线光电子能谱(XPS)是一种表面敏感的定量分析技术。它探测材料的表面化学并报告元素组成、经验式(不含氢)以及元素的化学和电子态,平均分析深度为1–10nm。X射线束照射材料表面会产生具有特征动能的电子光谱。每种元素都会在特征结合能(从原子中发射电子所需的能量,取决于元素、轨道和化学环境)产生一组峰。峰值指...