英文简称Dektak -XT 10th STYLUS PROFILOMETER 产地德国 上市时间2011年 探针式轮廓仪系统Dektak XTL 咨询 布鲁克衍射荧光事业部(AXS) 型号Dektak XTL 中文简称探针式轮廓仪系统Dektak XTL 英文简称Bruker Dektak XTL Stylus Profiler 产地德国 上市时间2014年3月5日 售后服务 我会维修/培训/做方法 如果您是一名工程...
中文:台阶仪 仪器型号 KLA P-7 英文:KLA P-7 产地及生产厂家 美国/KLA 所属单位 湖北鼎汇微电子材料有限公司 购置时间 2018年 放置地点 湖北省武汉市经济技术开发区东荆河路1号 仪器状态 正常 设备应用范围/仪器测量范围(公差) 对8寸/12寸 wafer dishing/erosion进行检测。 是否通过第...
中文:台阶仪 仪器型号 Dektak XT 英文:暂无 产地及生产厂家 美国/Bruker 所属单位 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 购置时间 2011年3月 放置地点 北京朝阳区北土城西路三号 仪器状态 正常 设备应用范围/仪器测量范围(公差) 线性差动变压器为机电转换器的一种,可以将一个对象之直线运...
英文名称: Manual Stylus Profiler JS10B 总访问: 38 国产/进口: 国产 半年访问: 38 产地/品牌: 泽攸科技(ZEPTOOLS) 产品类别: 其它各类仪器 型号: JS10B 最后更新: 2024-8-1 货号: 参考报价: 面谈 立即询价 电话咨询 [发表评论] [本类其他产品] [本类其他供应商] [收藏] 分享:微信新浪微博销售商...
在英文测试薄膜厚度时,台阶仪通常采用光学干涉原理或激光扫描原理。通过这些原理,台阶仪能够精确地测量薄膜表面的微小变化,从而得到准确的薄膜厚度数据。此外,台阶仪还可以结合其他测试方法,如原子力显微镜(AFM)和扫描电子显微镜(SEM)等,以获得更全面的薄膜形貌信息。 ...
英文名称: Automatic Stylus Profiler JS2000B 总访问: 38 国产/进口: 国产 半年访问: 38 产地/品牌: 泽攸科技(ZEPTOOLS) 产品类别: 其它各类仪器 型号: JS100B 最后更新: 2024-8-1 货号: 参考报价: 面谈 立即询价 电话咨询 [发表评论] [本类其他产品] [本类其他供应商] [收藏] 分享:微信新浪微博...
英文名称: Semiautomatic Stylus Profiler JS100B 总访问: 41 国产/进口: 国产 半年访问: 41 产地/品牌: 泽攸科技(ZEPTOOLS) 产品类别: 其它各类仪器 型号: JS100B 最后更新: 2024-8-1 货号: 参考报价: 面谈 立即询价 电话咨询 [发表评论] [本类其他产品] [本类其他供应商] [收藏] 分享:微信新浪...