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反射式膜厚仪是一种利用反射光的原理来测试薄膜厚度的仪器。它使用的是一种与传统光学测量方法不同的原理,即通过测量反射光的干涉现象来确定薄膜的厚度。在光线入射薄膜表面产生反射后,反射光线与入射光线之间会发生相位差。当反射光线再次经过该薄膜时,由于退相干的原因,反射光线中的干涉现象将会被放大,并且...
X射线荧光测厚仪 壁厚测厚仪 橡胶塑料测厚仪 电磁/电涡流测厚仪 塑料薄膜片测厚仪 其它测厚仪 该厂商的其他产品 SR-Mapping反射膜厚仪 RT-V反射透射测量仪 SR-M显微膜厚仪 相关技术文章 优可测白光干涉仪:量化管控纳米 玻璃基板精密检测,白光干涉仪和 从纳米到毫米!一篇看懂膜厚仪选 Hamamatsu 光谱干涉法...
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反射膜厚仪主要利用光的干涉或反射原理来测量薄膜的厚度。当光波照射到薄膜表面时,一部分光波会被反射回来,而另一部分则会穿透薄膜并被下一层材料反射。这两束反射光波在相遇时会产生干涉现象,形成明暗相间的干涉条纹。通过分析和计算这些干涉条纹,反射膜厚仪就能精确地测量出薄膜的厚度。 二、反...