#PART 1 去嵌技术的背景及意义矢量网络分析仪是射频微波领域的万用表，主要用来表征和测试射频微波元器件、模组及收发链路的S参数；网分的高阶功能还支持脉冲S参数、噪声系数、交调、谐波、TDR等参数测试。网分使用分三个主要步骤：设置、校准、测试。◎设置：设置是配置网分扫描频段、步进/扫描点数、IF Bandwidt...
一、机械去嵌 机械去嵌是印制板去嵌的传统方法之一,主要是通过机械力将板子上的铜箔去除,达到去嵌的目的。这种方法简单易行,但是不够精确,可能会对电路板造成损伤。因此,这种方法现在已经逐渐被其他更加精确的方法所代替。 二、化学去嵌 化学去嵌是一种非常常见的去嵌方法,通过化学方法去掉板子上的铜箔。这种方法...
分析仪 二、什么是去嵌? 样品中的有机或无机成分往往被固定于基质中,例如木质素、纤维素、树脂等,这种基质有时会对分析结果产生干扰,影响分析结果的准确性和可靠性,因此需要进行去嵌处理。去嵌是指将样品中被固定在基质中的成分溶解和去除的过程,可以通过化学或物理方法实现。 三、为什么需要进行去嵌? 样品...
1. 选择合适的去嵌方法:根据实际情况选择适合的去嵌技术,例如OSL法或Thru法。 2. 校准网络分析仪:在进行去嵌之前,确保网络分析仪已经过准确的校准,以减少系统误差。 3. 进行去嵌测量:按照所选的去嵌方法进行测量,记录所需的数据。 4. 数据处理与分析:利用测量数据,通过数学算法或软件工具进行去嵌处理,得...
探针去嵌准备工作 1:一台R&S网络分析仪 2:高频探针 3:高频探针出厂S参数 "去嵌"是一种高频测试中常用的技术,旨在消除测量中探针或连接线等外部元件的影响,以便更准确地测量被测试器件的性能。下面是进行"去嵌"的基本步骤: 获取S参数:首先,需要获取探针的S参数。这些S参数描述了探针在不同频率下的传输特性,包括反...
ADS去嵌原理是在已知夹具的S参数(SA/SB)的基础上,把被测件的S参数从总的测量的被测件和夹具一起的S参数中分离出来的运算过程。 去嵌入技术运用了电路网络的矩阵计算,为了运算上的方便往往先将S参数转换到T参数来进行级联运算。具体公式为:只要事先获得测试夹具的T矩阵,就可以在测试中将其的影响消除掉。 一般...
高速信号测试中夹具的去嵌 Teledyne LeCroy 胡为东 一、高速信号测量中的去嵌问题 下图1的A情形为一个典型的高速信号传输链路，包括Tx发送端、传输链路（通常为差分对传输线）、和Rx接收端。高速信号的Tx发送端物理层信号质量测试通常在两个位置处进行测试，一个是距离发送端最近的位置，另外一个是距离接收端最近的...
1仪器配置 作用域型号：DPO75902SXSDLA版本：DPOJET版本：2测试步骤 加载参考波形点击“Default Setup”按钮，将示波器重置为默认设置。在示波器界面上，选择“File>Reference Waveform Controls”，然后点击“Recall”按钮，定位并加载一个合适的参考波形，例如位于"C:\Users\Public\Tektronix\TekApplications\SDLA\Example...
1、本技术实施例提供了一种去嵌方法和去嵌装置,能够减小去嵌误差,提高去嵌准确度。 2、第一方面,本技术实施例提供了一种去嵌方法,去嵌方法包括:获取目标标准结构件在多个频率下的第一电路传输特性参数,目标标准结构件包括校准结构件和被测结构件,被测结构件包括检测焊盘、传输线和被测件,检测焊盘通过传输线与被测件电...
使用SDLA去嵌长线缆 3 3.1. 从“Analyze > Serial Data Link Analysis”中打开SDLA,在下拉页表中选择“Ref1” 3.2. 点击 “De-embed” 方块,在弹出的“De-embed” 页面中选择方块 “B1”。 3.3. 在弹出的“Block Configuration” 页面,选择 “File”, 在“Model” 下拉列表中选择“2-Port”。点击 “Brows...