原位纳米力学性能测试系统可在SEM中对微纳材料进行力学测试,同时也可与SEM中配备的分析探测器配合使用,例如背散射电子衍射(EBSD)。这种组合能够研究材料的力学行为与晶体学微观信息之间的关联作用,例如和透射电子菊池衍射技术(Transmission Kikuchi Diffraction)联用来研究应力作用下晶粒及晶向的变化。
FT-NMT03原位SEMFIB纳米力学性能测试系统可以在SEM/FIB内对微柱机械性能进行直接精确的测量。(原位SEMFIB纳米力学性能测试系统)采用微力传感器加载载荷配合高精度位置编码器可以对微柱形变行为进行压缩、循环、蠕变或断裂测试。 (原位SEMFIB纳米力学性能测试系统)通过力-形变(应力-应变)曲线,可以材料的机械性能进行分析。
FT-NMT03纳米力学性能测试系统是一款可在SEM/FIB中对微纳米材料和结构的力学性能进行原位、直接而准确测量的纳米机器人系统。测试原理是通过微力传感探针对微纳结构施加可控的力,同时采用位移记录器来测量该结构的形变。从测得的力和形变(应力-应变)曲线可以定量地分析微纳米结构的力学性能。通过控制加载力的大小和方...
1原位SEM/FIB微纳米力学性能测试系统1最大测力范围:±200 mN 3、投标人资格要求 投标人应具备的资格或业绩:凡是来自中华人民共和国或是与中华人民共和国有正常贸易往来的国家或地区(以下简称“合格来源国/地区”)的法人或其他组织均可投标。 是否接受联合体投标:不接受 ...
FT-NMT03原位SEMFIB纳米力学性能测试系统可以在SEM/FIB内对微柱机械性能进行直接精确的测量。(原位SEMFIB纳米力学性能测试系统)采用微力传感器加载载荷配合高精度位置编码器可以对微柱形变行为进行压缩、循环、蠕变或断裂测试。 (原位SEMFIB纳米力学性能测试系统)通过力-形变(应力-应变)曲线,可以材料的机械性能进行分析。
而FT-NMT03原位纳米力学性能测试系统可以很好的解决这样的技术难题。测试原理是通过微力传感探针对微纳结构施加可控的力,同时采用位移记录器来测量该结构的形变。可集合纳米操作以及力学-电学性能同步测试功能于一体,满足几乎所有纳米力学测试需求。
原位纳米力学性能测试系统可在SEM中对微纳材料进行力学测试,同时也可与SEM中配备的分析探测器配合使用,例如背散射电子衍射(EBSD)。这种组合能够研究材料的力学行为与晶体学微观信息之间的关联作用,例如和透射电子菊池衍射技术(Transmission Kikuchi Diffraction)联用来研究应力作用下晶粒及晶向的变化。
可在SEM的最小工作距离下测量 为获得最好的SEM/FIB成像质量,能在最小工作距离下工作是非常重要的。基于芯片的微力传感探针使得机械测试能在近至4mm的工作距离下进行,(原位SEMFIB纳米力学性能测试系统)并且不与SEM磁极片产生冲突。 SEM/FIB集成 得益于FT-NMT03纳米力学测试系统的紧凑尺寸(71×100×35mm),该系...