本发明涉及一种辐照后半导体激光器伏安特性曲线测量系统及测量方法.该测量系统包括源表,辐照板,矩阵开关,控制计算机以及线缆;辐照板的输入端与被测半导体激光器一一对应,且相互连接,辐照板的输出端与矩阵开关的开关单元输入端一一对应,且通过线缆连接;矩阵开关的开关单元输出端与源表输入端通过线缆连接,源表输出端与...