3--2003/IEC 60747-5-3:1997 飞兰 前 暇抽 本系列标准的预计结构为: —第5-1部分:光电子器件 总则’; —第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性; —第5-3部分:光电子器件 测试方法。 本部分等同采用IEC 60747-5-3:1997《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测 试方法》(英文版)。
《GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》作为中国国家标准,规定了光电子器件的测试原则、测试条件、测试项目及其具体方法。然而,您提供的信息中并未直接给出另一个标准以进行对比。不过,我可以基于此类标准更新的一般规律和行业发展趋势,概述此类标准更新时可能包含的一些典型变...
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。 关键 词: GBT 15651.3 2003 半导体 分立 器件 集成电路 部分 光电子 测试 方法 《GBT 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》由会员分享,可在线阅读,更多相关...
电子元器件与信息技术 - GB-T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法.pdf !# !!#$% $ % ! ! # $ % ’’ ( ) * ! ! ! % ’ $!! #%%!!( $%’(’))! ))’ !#$ %’()* +, - .$ !/ +0’ ! 12 34 *+,-./0/,/1+-2345-02.4/6+-/,734...
《GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》本部分适用于光电子器件的测试方法,用于光纤系统或子系统的除外。 状态:现行
中文名称:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 英文名称:Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods 中国标准分类(CCS):L50 国际标准分类(ICS):31.260 发布日期:2003-11-24 ...
中文标准名称:半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法 英文标准名称:DiscreteSemiconductorDevicesandIntegratedCircuits-Part5-3:OptoelectronicDevices-MeasuringMethodsDispositifsDiscretsASemiconducteursEtCircuitsIntegres-Partie5-3:DisopsitifsOptoelectroniques-MethodesDeMesureFirstEdition;PatiallyReplacesIEC...
中文标准名称:半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件 英文标准名称:Semiconductor devices. Discrete devices and integrated circuits. Part 5: Optoelectronic devices 标准类型:L40 发布日期:1995/7/24 12:00:00 实施日期:1996/4/1 12:00:00 ...
EN 60747-5-1:2001半导体分立器件和集成电路 第5-1部分 光电子器件 总则 (包括修改件A1-2002 + A2-2002) (IEC 60747-5-1-1997 + A1-2001 + A2-2002) 哪些标准引用了EN 60747-5-1:2001 标准号 发布 发布单位 当前最新 购买 正式版 IEC 60747 的本部分涉及与半导体光电器件相关的术语。