椭圆偏振光谱仪椭圆偏光法是一种非接触式、非破坏性的薄膜厚度、光学特性检测技术。椭偏法测量的是电磁光波斜射入表面或两种介质的界面时偏振态的变化。椭偏法只测量电磁光波的电场分量来确定偏振态,因为光与材料相互作用时,电场对电子的作用远远大于磁场的作用。 折射率和消光系数是表征材料光学特性的物理量,折射率是...
(1)椭偏法测量的优点—能测量很薄的膜(1nm),且精度很高,比干涉法高1~2个数量级。 (2)椭偏法测量的优点—是一种无损测量,不必特别制备样品,也不损坏样品,比其他精密方法如称重法、定量化学分析法简便。 (3)椭偏法测量的优点—可同时测量膜的厚度、折射率以及吸收率。因此可以作为分析工具使用。 (4)椭偏法测...
一、变角度椭圆偏振光谱法的基本原理 光束在遇到薄膜时,其偏振态会产生变化。这种变化与薄膜的厚度、折射率和消光系数等因素有着密切的关系。变角度椭圆偏振光谱法通过测量入射光和反射光的偏振态变化,采用拟合方法获得薄膜的厚度、折射率和消光系数等参数。 在具体操作中,光源会发出一定角度的光束照射到样品表面,然后...
1.一种采用如下程式设计的椭圆偏振光谱仪的设计方法。光源→单色仪→起偏器Px→样品→检偏器A→探测器→计算,上述程式中,起偏器Px被固定在某方位角,检偏器A作频率为ω连续旋转,由探测器得到的信号为I=K0+K1cos2ωt+K2sin2ωt=K0+KAcos(2ωt+θ)上述中,K0,K1和K2可通过富利埃变换求得nn nK0=1/n...
《基于分形理论的电化学原位椭圆偏振光谱分析新方法》是依托重庆大学，由李凌杰担任项目负责人的青年科学基金项目。中文摘要 建立以光学分形维数新参量为核心的电化学原位椭圆偏振光谱分析新方法。新参量比电化学参量更灵敏、比传统椭圆偏振参量包含更丰富的体系演化特征信息；新方法能解决传统方法光学模型依赖性强、不适于...
椭圆偏振光谱法测量单晶硅的光学常数,椭圆,偏振,光谱,测量,单晶硅,光学,常数 温馨提示: 1: 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。 2: 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联...
用介电函数的三级微商谱精确确定Ga_xIn_(1-x)P临界点的能量值 本文导出了弱电场调制反射谱与介电函数对能量的三级微商成正比。将MOCVD方法生长的GaInP以及掺Si和掺Zn3个样品,用椭圆偏振光谱法测量得到可见光区的介电函数谱,并求其... 张淑芝,张燕峰,连洁 - 《光电子·激光》 被引量: 0发表: 1998年来源...
运用光谱椭偏仪对洁净的�����A�虑敖�蠺�浚�缘闷涔庋СJ�氖�荩��作用,为了使模型尽量简单,在�秃虸型微晶硅材料上使用表面粗糙层,对于硅基薄膜样品,如果样品厚度较薄,会有部分光透过而进入背面第十届中国太阳能光伏会议论文集��玻璃�����墓庋СJ��...
椭圆偏振光谱分析方法对铁表面阳极氧化过程的研究黄宗卿张胜涛(重庆太学应用化学系,重庆63o04~)关键词精回偏振光谱、铁、阳极氧化近半个世纪以来,椭圆偏振技术在材料和..