此系统采用光热偏转技术，用于测量透明光学材料及镀膜产品受到激光照射后产生的微弱吸收。在强激光照射下，材料内部由于吸收热能产生折射率梯度现象及热膨胀效应（热透镜效应），当一束探测光经过“热透镜”效应区域时发生位置偏移，通过PSD位移传感器测量其位置偏移量。 LID技术参数 ...
LID原理示意图 此系统采用光热偏转技术,用于测量透明光学材料及镀膜产品受到激光照射后产生的微弱吸收。在强激光照射下,材料内部由于吸收热能产生折射率梯度现象及热膨胀效应(热透镜效应),当一束探测光经过“热透镜”效应区域时发生位置偏移,通过PSD位移传感器测量其位置偏移量。 LID技术参数...